[发明专利]数据处理在审

专利信息
申请号: 201711338051.5 申请日: 2017-12-14
公开(公告)号: CN108735267A 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 马克·杰拉尔德·拉文;艾伦·杰瑞米·贝克尔 申请(专利权)人: ARM有限公司;安谋科技(中国)有限公司
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 李晓冬
地址: 英国*** 国省代码: 英国;GB
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摘要:
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【说明书】:

本申请公开了数据处理。提供了一种数据处理设备,该数据处理设备包括:至少一个存储器,被配置用于存储数据;处理电路,用于访问该至少一个存储器中的数据;存储器内置自测(MBIST)电路,具有用于访问该至少一个存储器的接口,并且被配置用于执行用于测试该至少一个存储器的至少一个目标存储器单元的测试程序,该测试程序至少包括将测试数据写入目标存储器单元;以及诊断电路,用于响应于由该处理电路执行的处理操作来执行诊断程序以生成诊断数据;其中该MBIST电路被配置用于控制将由该诊断电路生成的诊断数据写入到包括该至少一个存储器的至少一部分的暂时保留的存储器区域中的存储器单元的操作。

技术领域

本公开涉及数据处理。

背景技术

为数据处理设备提供处理电路的一个或多个实例和多种不同形式的一个或多个存储器是已知的,该一个或多个存储器用于存储要操纵的数据值和指定要执行的数据处理操作的程序指令。存储器的形式可以包括例如主存储器、高速缓存存储器(cache memory)、用于存储指定虚拟到物理存储器地址转换的数据和/或存储器许可数据的旁路转换缓冲器(translation lookaside buffer)、以及存储数据处理系统内用于其他用途的数据(诸如用于分支预测的分支历史数据)的存储器。

另外,在数据处理系统内提供存储器内置的自测电路以对数据处理系统内的存储器执行存储器测试操作也是已知的。这种存储器内置自测电路可以用于在数据处理系统的初始制造时执行初始测试和/或在数据处理系统的寿命期间执行现场连续测试。识别存储器操作中的故障可以用于触发适当的响应,诸如使存储器的相关部分不被使用,从而使其不会整体上损坏或减慢系统的操作。对检测到的错误的许多其他不同形式的响应也是可能的。

还已知的是,禁用存储器或存储器的一部分,使得访问存储器的处理器可以在没有存储器或存储器的该部分的情况下或者在不使用全部存储器的情况下继续操作。

还已知的是,提供内置的诊断电路以响应于由处理电路进行的处理来执行诊断程序以生成诊断数据。诊断数据被存储在专用于由诊断电路使用的另外的存储器中。

发明内容

在示例性布置中,提供了一种数据处理设备,包括:

至少一个存储器,被配置用于存储数据;

处理电路,用于访问至少一个存储器中的数据;

存储器内置自测(MBIST)电路,该MBIST电路具有用于访问至少一个存储器的接口,并且被配置用于执行用于测试至少一个存储器的至少一个目标存储器单元的测试程序,该测试程序至少包括将测试数据写入目标存储器单元;以及

诊断电路,用于响应于由该处理电路执行的处理操作而执行诊断程序以生成诊断数据;

其中MBIST电路被配置用于控制将由诊断电路生成的诊断数据写入到包括至少一个存储器的至少一部分的暂时保留的存储器区域中的存储器单元的操作。

在另一示例性布置中,提供了一种数据处理设备,包括:

至少一个存储器装置,用于存储数据;

处理装置,用于访问至少一个存储器装置中的数据;

存储器内置自测(MBIST)装置,该MBIST装置具有用于访问至少一个存储器装置的接口装置,并且被配置用于执行用于测试至少一个存储器装置的至少一个目标存储器单元的测试程序,该测试程序至少包括将测试数据写入目标存储器单元;以及

诊断装置,用于响应于由处理装置执行的处理操作而执行诊断程序以生成诊断数据;

其中,该MBIST装置被配置用于控制将由诊断装置生成的诊断数据写入到包括至少一个存储器装置的至少一部分的暂时保留的存储器区域中的存储器单元的操作。

在另一示例性布置中,提供了一种数据处理方法,包括:

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