[发明专利]一种光电开关通断电平检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及检测电路技术领域，具体涉及一种光电开关通断电平检测电路。

背景技术

随着电子技术不断发展，电子高端产品的出现，电子产品逐渐趋于小型化、复杂化，电路板亦趋于多层、高功能和高密度，因此，对其检测工作提出了更高层次的要求。

测试夹具又称测试架，它是把焊好电子元器件的线路板放在装有数个测试针的支架上，让预定的某些焊点准确地与测试针相接触，因而被测线路板一装入夹具，电参数立即会通过表头、荧光屏或数码等显示出来。测试夹具测试是较为常见的一种线路板测试方法，使用专门的针床测试夹具与线路板上的元器件接触，在线路板的每个节点施加微小电压来测试线路通断、元器件是否正确安装。由于需要为电路板设计专用针床型夹具，这种测试方法适用于大批量生产电路板的在线测试。对于夹具控制系统的测试，主要测试夹具能否正确的按照流程控制电磁阀打开关闭，从而把待测产品固定及退出测试夹具；测试夹具控制系统能否正确的发送开始信号到测试系统，当测试结束后能够根据测试系统反馈回来的信号进行处理。测试夹具测试速度快，但是制作成本高、制作周期长；测试夹具检测电路的结构比较复杂、电路的性能不稳定、电路的控制精确不高。

发明内容

(一)解决的技术问题

本发明的主要目的是为了克服上述现有技术的缺陷问题，本发明提供一种光电开关通断电平检测电路，该检测电路结构简单、检测电路的性能稳定、检测电路的控制足够精确、检测电路的功能具有可扩充性。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：

一种光电开关通断电平检测电路，包括输入信号Vi、输出信号Vo1、Vo2，运算放大器U1、U2、U3、U4，可调电阻R1、R2、R3、R4，电源Vcc，地，发光二极管D1、D2，所述输入信号Vi分别与运算放大器U1的反相输入端和运算放大器U2的同相输入端相连，运算放大器U1的同相输入端与可调电阻R1一端相连，可调电阻R1另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U2的反相输入端与可调电阻R2一端相连，可调电阻R2另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U1、U2的输出端与输出信号Vo1相连，输出信号Vo1通过发光二极管D1与地相连；输入信号Vi还分别与运算放大器U4的反相输入端和运算放大器U3的同相输入端相连，运算放大器U4的同相输入端与可调电阻R4一端相连，可调电阻R4另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U3的反相输入端与可调电阻R3一端相连，可调电阻R3另外两端分别与电源Vcc和地相连，运算放大器U3、U4的输出端与输出信号Vo2相连，输出信号Vo2通过发光二极管D2与地相连。

进一步地，所述可调电阻R1、R2、R3、R4与运算放大器和地相连接的两端分别并连有电容C1、C2、C3、C4。

进一步地，所述电容C1、C2、C3、C4为0.1uF陶瓷电容。

进一步地，所述输入信号Vi通过电阻R1接地。

进一步地，所述电阻R1为47kΩ。

进一步地，所述电阻R1两端并连有稳压管D3。

进一步地，所述运算放大器U1、U2、U3、U4为运算放大器LM139。

进一步地，所述发光二极管D1的阳极与输出信号Vo1相连，发光二极管D1的阴极与地相连。

进一步地，所述发光二极管D2的阳极与输出信号Vo2相连，发光二极管D2的阴极与地相连。

进一步地，所述电源Vcc为正5V直流电。

(三)有益效果

本发明的有益效果：一种光电开关通断电平检测电路，该检测电路结构简单、检测性能稳定；通过调节可调电阻提高检测精确，适合多路光电开关测试夹具电控系统；检测电路的功能具有可扩充性，可以提高夹具设计效率，缩短生产周期，加快新产品的开发。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明检测电路原理图。

具体实施方式