[发明专利]一种致密砂岩气藏水平井轨迹动态调整方法有效
申请号: | 201711340345.1 | 申请日: | 2017-12-14 |
公开(公告)号: | CN108518181B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 刘林松;高青松;雷涛;李晓慧;唐明远;毛严;吴永峰;李雪晴;闫淑红;郭建民;张伟杰 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司华北油气分公司勘探开发研究院;中国石油化工股份有限公司 |
主分类号: | E21B7/04 | 分类号: | E21B7/04;E21B47/022;G06Q50/02 |
代理公司: | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人: | 牛爱周 |
地址: | 450000 河南*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 水平井 动态调整 致密砂岩 靶点 气藏 水平段 着陆点 录井 水平井水平段 研究技术领域 动态预测 轨迹设计 井眼轨迹 气藏开发 重新确定 砂岩 补充 气层 钻进 着陆 优化 保证 | ||
本发明涉及一种致密砂岩气藏水平井轨迹动态调整方法,属于气藏开发研究技术领域。本发明的致密砂岩气藏水平井轨迹动态调整方法,包括以下步骤:设计并优化水平井轨迹,形成水平井水平段轨迹示意图及靶点设计数据表,实钻实现A靶点着陆,整理着陆点测、录井资料,结合着陆点测、录井资料重新确定水平段轨迹各靶点,编写水平段补充设计,按照水平段补充设计继续钻进。本发明的调整方法,根据实钻过程中A靶点着陆点的测、录井资料,实时对井眼轨迹做出动态预测与调整,保证水平井良好的砂岩和气层钻遇率,方法简单、用于指导致密砂岩气藏水平井轨迹设计及动态调整时可操作性强、有效实用,具有很好的推广使用价值。
技术领域
本发明涉及一种致密砂岩气藏水平井轨迹动态调整方法,属于气藏开发研究技术领域。
背景技术
水平井是致密砂岩气藏开发的重要手段,由于其能够增大泄气面积和供气体积,大幅度提高单井产量和储量动用率,现已广泛应用于致密砂岩气藏开发。但是,致密砂岩气藏储层具有砂体纵、横向变化快,储层物性、含气性差异大、非均质性强等特点,地质设计及钻井过程中对目的层深度、储层厚度、气层展布预测难度大。
现有技术中,授权公告号为CN104695862B的中国发明专利公开了一种致密砂岩岩性气藏水平井钻井地质设计方法,该方法汇集地质储层数据,通过对地质储层数据精细描述及地震含气性预测技术步骤,编制水平井部署区地震剖面图、砂体厚度图、有效储层厚度图、构造图、气藏剖面图、轨迹示意图,实现对储层空间分布定量表征,从而优化确定水平井轨迹靶点,给出水平井水平段靶点设计表,为水平井的实施提供依据。该方法克服常规地质分析法精度不高的缺点,又避免油气藏数值模拟法繁琐、难度大的不足,该方法具有操作简便的特点,能够提高完钻水平井的砂岩钻遇率和有效储层钻遇率,但还存在水平井实施过程中A靶点很难着陆在储层最发育位置,且砂岩和气层的钻遇率难以进一步提高等问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种致密砂岩气藏水平井轨迹动态调整方法,能够对井眼做出动态预测与调整,够显著提高水平井砂岩和气层的钻遇率。
为了实现以上目的,本发明所采用的技术方案是:
一种致密砂岩气藏水平井轨迹动态调整方法,包括以下步骤:设计并优化水平井轨迹,形成水平井水平段轨迹示意图及靶点设计数据表,实钻实现A靶点着陆,整理着陆点测、录井资料,结合着陆点测、录井资料重新确定水平段轨迹各靶点,编写水平段补充设计,按照水平段补充设计继续钻进。
A靶点是指水平井水平段开始的第一个设计点。
本发明的致密砂岩气藏水平井轨迹动态调整方法,根据实钻过程中A靶点着陆点的测、录井资料,实时对井眼轨迹做出动态预测与调整,能够保证水平井良好的砂岩和气层钻遇率,方法简单、用于指导致密砂岩气藏水平井轨迹设计及动态调整时可操作性强、有效实用,是保障致密砂岩气藏水平井成功实施的关键,具有很好的推广使用价值。
结合着陆点测、录井资料重新确定水平段轨迹各靶点的方法,包括以下步骤:根据着陆点测、录井资料,进行地层及小层砂体对比、更新目的层砂顶构造图、开展物探反演、进行构造及储层变化分析,重新确定水平段轨迹各靶点。
设计并优化水平井轨迹时,如图1所示,针对不同砂体叠置模式,有以下三种水平井轨迹设计原则:针对块状有效砂体,将水平段轨迹设计成位于储层中部;针对多层式砂体,将水平段轨迹设计成位于下砂体靠近顶部;针对多边式砂体,把水平段轨迹设计成穿过相邻切割连通砂体。
设计并优化水平井轨迹的方法,包括以下步骤:在目的层地质研究成果基础上,结合储层预测成果、气藏工程水平段长论证研究成果以及不同砂体叠置模式下水平井轨迹设计原则,设计并优化水平井轨迹。
目的层地质研究成果和储层预测成果主要包括水平井目的层砂顶构造图、砂底构造图、砂体剖面图、气藏平面图、物探剖面图、含气性预测。
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