[发明专利]一种摄像模组主动校准设备及其校准方法在审

专利信息
申请号: 201711341493.5 申请日: 2017-12-14
公开(公告)号: CN107948638A 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 林锋芳;赵志伟 申请(专利权)人: 信利光电股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 罗满
地址: 516600 广东省汕*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 摄像 模组 主动 校准 设备 及其 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及摄像技术领域,特别是涉及一种摄像模组主动校准设备及其校准方法。

背景技术

由于无螺纹镜头需求越来越多,以及主动校准(Active Alignment,AA)制程越来越普及,使用机器AA不仅需要高费用来制作相关夹具,且受镜头视角和光源面板限制,部分摄像模组还不能完成机器AA。手动AA的设备及方法将成为项目前期的必然趋势。

因此,如何使手动AA操作简单,且准确度高,是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提供一种摄像模组主动校准设备及其校准方法,可以调整镜头与感光元件之间的角度和光心位置的偏移,校准操作简单,且准确度高。其具体方案如下:

一种摄像模组主动校准设备,包括:下底座,与所述下底座组装的感光元件,还包括:上底座,与所述上底座组装的镜头,以及用于夹住所述上底座的夹具;

所述夹具的四角区域分别设置有延伸方向为垂直方向的第一微调工具,用于微调所述镜头与所述感光元件之间的距离,进行所述摄像模组的光轴校准;

所述夹具的中间区域设置有延伸方向为水平方向的第二微调工具,用于微调所述镜头与所述感光元件的中心位置偏移,进行所述摄像模组的光学中心校准。

优选地,在本发明实施例提供的上述摄像模组主动校准设备中,所述第一微调工具和所述第二微调工具均为千分尺。

优选地,在本发明实施例提供的上述摄像模组主动校准设备中,还包括:盖在所述镜头上方的发光面板。

优选地,在本发明实施例提供的上述摄像模组主动校准设备中,所述发光面板为红外发光面板或可见光面板。

优选地,在本发明实施例提供的上述摄像模组主动校准设备中,还包括:用于固定所述下底座与所述感光元件的探针测试架;

所述探针测试架与所述夹具连接为一个测试架结构;

所述测试架结构与度信工装连接;所述度信工装与计算机连接。

本发明实施例还提供了一种本发明实施例提供的上述摄像模组主动校准设备的校准方法,包括:

采用第一微调工具微调镜头与感光元件之间的距离,进行所述摄像模组的光轴校准;

采用第二微调工具微调所述镜头与所述感光元件的中心位置偏移,进行所述摄像模组的光学中心校准。

优选地,在本发明实施例提供的上述摄像模组主动校准设备的校准方法中,采用第一微调工具微调镜头与感光元件之间的距离,进行所述摄像模组的光轴校准,具体包括:

通过计算机中的辅助软件使所述摄像模组成像,测试出所述摄像模组多个视场角的解析力数据;

采用第一微调工具微调所述镜头与感光元件之间的距离,调节所述解析力数据达到最佳及一致,以使所述摄像模组的光轴完成校准。

优选地,在本发明实施例提供的上述摄像模组主动校准设备的校准方法中,采用第二微调工具微调所述镜头与所述感光元件的中心位置偏移,进行所述摄像模组的光学中心校准,具体包括:

在镜头上方盖上发光面板,产生成像圆;

采用第二微调工具微调所述镜头与所述感光元件的中心位置偏移,调节所述成像圆的圆心在所述感光元件的中心,以使所述摄像模组的光学中心完成校准。

优选地,在本发明实施例提供的上述摄像模组主动校准设备的校准方法中,测试出所述摄像模组多个视场角的解析力数据,具体包括:

通过SFR方法或MTF方法测试出所述摄像模组多个视场角的解析力数据。

优选地,在本发明实施例提供的上述摄像模组主动校准设备的校准方法中,还包括:

对所述摄像模组进行胶缩补偿和固胶。

本发明所提供的一种摄像模组主动校准设备及其校准方法,包括:下底座,与下底座组装的感光元件,还包括:上底座,与上底座组装的镜头,以及用于夹住上底座的夹具;夹具的四角区域分别设置有延伸方向为垂直方向的第一微调工具,用于微调镜头与感光元件之间的距离,进行摄像模组的光轴校准;夹具的中间区域设置有延伸方向为水平方向的第二微调工具,用于微调镜头与感光元件的中心位置偏移,进行摄像模组的光学中心校准。本发明通过第一微调工具和第二微调工具的设置,可以调整摄像模组中镜头与感光元件之间的角度和光心位置的偏移,完成校准,操作简单,且准确度高。

附图说明

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