[发明专利]一种改善机载测振仪机内测试覆盖率的方法在审
| 申请号： | 201711343819.8 | 申请日： | 2017-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN108362370A | 公开（公告）日： | 2018-08-03 |
| 发明（设计）人： | 李薇;王海涛;柏小平 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司上海航空测控技术研究所 |
| 主分类号： | G01H9/00 | 分类号： | G01H9/00 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 201601 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 机内测试 测振仪 边界扫描芯片 覆盖率 边界扫描单元 输入测试信号 被测电路 测试单元 模拟芯片 设备稳定 构建 植入 元器件 置换 输出 保证 | ||
【权利要求书】：
1.一种改善机载测振仪机内测试覆盖率的方法，包括以下步骤：
(1)把机载测振仪的待测数字元器件置换为边界扫描芯片；
(2)在待测的模拟芯片周围植入边界扫描芯片，共同构建测试单元；
(3)设定机载测振仪机内测试的输入顺序和输入信号，向边界扫描芯片输入测试信号，监测相应的输出信号，如输出信号值与理论值相符，则被测电路工作正常；反之，被测电路工作不正常，根据输出的数值判断出电路故障原因，确定故障器件的位置。
2.按照权利要求1所述的方法，其中所述机载测振仪机内测试的输入顺序是采用最大连续子序列)和/或等权值方法生成的。
3.按照权利要求1所述的方法，其中根据输出的数值判断出电路故障原因包括将测试数据经过方差、相关与回归分析后，计算故障特征值，采用支持向量机方法进行器件或模块的故障诊断。
4.按照权利要求1所述的方法，其中所述待测数字元器件包括D/A转换器、I/O芯片、多路选择器和/或中央处理器。
5.按照权利要求1所述的方法，其中所述待测模拟芯片包括电阻、电容和/或模拟开关。
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