[发明专利]一种激光制造半导体封装器件的方法有效
申请号: | 201711345751.7 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN108172522B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 王焕菊;褚宏深;王国庆;宋旭官;黄正信 | 申请(专利权)人: | 丽智电子(昆山)有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/48;B23K26/402 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体封装器件 电器模组 激光制造 封装器件 基板封装 激光技术 节省空间 陶瓷材料 端电极 复杂度 组配 半导体 组装 制作 | ||
本发明公开了一种激光制造半导体封装器件的方法,结合激光技术,以陶瓷材料为基板封装半导体,精度高,制作复杂度交低,同时为封装器件提供端电极,可直接组配于电器模组,即节省空间,又提升电器模组组装的效率。
技术领域
本发明涉及一种激光制造半导体封装器件的方法,属于半导体封装领域。
背景技术
随着科学技术的不断发展,电子产品更新迭代的速度也在加快,半导体元件封装技术与其它领域先进技术整合,向小型化、高效能制作发展。目前,电子业界封装器件的制作方法,多属于传统机械加工,对于高階的二极管等半导体元件的器件加工,会有制程精度度不佳、制程复杂度高、甚或无法达到器件设计目的。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种激光制造半导体封装器件的方法。
为了达到上述目的,本发明所采用的技术方案是:
一种激光制造半导体封装器件的方法,包括以下步骤,
在陶瓷基板顶面上切沟,形成若干个组件单元,定义组件单元A侧与B侧相对;
组件单元顶面涂导电膏,并延伸至组件单元A侧,形成下导电路径;
下导电路径上设置半导体晶片,半导体晶片下电极与下导电路径连接;
在陶瓷基板顶面封合一层胶体,并且所有半导体晶片埋入胶体;
用激光打薄胶体,使各个半导体晶片上电极露出的面积至预设值;
在露出的半导体晶片上电极上涂导电膏,并向外延伸至与所在组件单元B侧对齐,形成上导电路径;
在打薄的胶体顶面设置保护层,并且上导电路径和半导体晶片上电极均埋入保护层;
沿切沟裂片,A侧所在的侧面以及B侧所在的侧面上均设置导体层,两导体层分别与上导电路径和下导电路径连接,形成端电极。
切沟包括若干横向切沟和若干纵向切沟,若A侧所在的侧面和B侧所在的侧面均为横向,则裂片时,先沿横向切沟裂片,形成若干条状体,在条状体的两侧设置保护层,然后再沿纵向切沟裂片;若A侧所在的侧面和B侧所在的侧面均为纵向,则裂片时,先沿纵向切沟裂片,形成若干条状体,在条状体的两侧设置保护层,然后再沿横向切沟裂片。
切沟的横截面为V型。
通过模压系统将胶体封合在陶瓷基板顶面。
使用激光薄化系统打薄胶体,激光薄化系统包括聚焦镜、冷却环和工作片,将半成品放置在工作片上,激光依次通过聚光镜和冷却环包覆的出光窗口,以辐射能将成品上的胶体打薄。
激光薄化系统还包括光学影像监测系统,在打薄过程中,记录半导体晶片上电极露出的面积。
一次打薄后,若半导体晶片上电极露出的面积没有达到预设值,则根据记录,在相应位置补足激光量。
本发明所达到的有益效果:本发明结合激光技术,以陶瓷材料为基板封装半导体,精度高,制作复杂度交低,同时为封装器件提供端电极,可直接组配于电器模组,即节省空间,又提升电器模组组装的效率。
附图说明
图1为陶瓷基板的结构示意图;
图2为切沟的结构示意图;
图3为设置半导体晶片后的结构示意图;
图4为封胶后的结构示意图;
图5为打薄胶体后的结构示意图;
图6为激光薄化系统示意图;
图7为裂片前半成品的结构示意图;
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