[发明专利]一种光杠杆法测距仪及其测量方法在审

专利信息
申请号: 201711350546.X 申请日: 2017-12-15
公开(公告)号: CN107860355A 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 樊旭峰;单海江;颜婷婷;陈彪;马振宁;李星;于智清;李强;单亚拿;王逊 申请(专利权)人: 沈阳建筑大学
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00;G01B5/02;G09B23/06
代理公司: 沈阳之华益专利事务所有限公司21218 代理人: 黄英华
地址: 110168 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 杠杆 测距仪 及其 测量方法
【权利要求书】:

1.一种光杠杆法测距仪,包括测距装置和镜面标尺(9),其特征在于:测距装置和镜面标尺(9)是各自独立的部分,所述测距装置包括底座(1)、激光笔(2)、螺旋测微器(3)、销钉(4)、绕轴旋转架(5)、固定架(6),套筒(7)和光杆(8),所述光杆(8)通过螺纹连接在底座(1)上,激光笔(2)用弹簧片固定在绕轴旋转架(5)上,绕轴旋转架(5)的一端通过销钉(4)固定在光杆(8)上,螺旋测微器(3)焊接在固定架(6)的一端,固定架(6)的另一端用螺钉固定在套筒(7)上,套筒(7)的高度可沿光杆(8)调整,套筒(7)通过螺钉紧固在光杆(8)上,螺旋测微器(3)的顶尖顶在绕轴旋转架(5)尾部的凹坑中心点处。

2.根据权利要求1所述的一种光杠杆法测距仪,其特征在于:所述螺旋测微器(3)包括一根精密的测微螺杆(3-1)和套在测微螺杆(3-1)上的螺母套管(3-3),以及紧固在测微螺杆(3-1)上的微分套筒(3-4),螺母套管(3-3)上有两排刻线,毫米刻线和半毫米刻线;螺母套管(3-3)与螺旋测微器架(3-2)靠锁紧装置(3-5)固定;微分套筒(3-4)圆周上刻有50个等分格,当微分套筒(3-4)转过一周时,测微螺杆(3-1)前进或后退0.5毫米,即测微螺杆(3-1)上的顶尖移动了0.5毫米,顶尖移动的距离由螺母套管(3-3)上毫米刻度和微分套筒(3-4)上等分格的刻度读出,测量精度为0.01毫米,螺旋测微器(3)可移动的最大距离为25.00毫米,材质为不锈钢。

3.根据权利要求1所述的一种光杠杆法测距仪,其特征在于:所述绕轴旋转架(5)为半敞开式柱状结构,内圆半径5毫米,壁厚3毫米,总长120毫米;在距绕轴旋转架(5)的一端面10毫米处有一凹坑,坑深2毫米,凹坑用于与螺旋测微器(3)的顶尖配合;距绕轴旋转架(5)的另一端面10毫米处有一孔,孔径为3毫米,此孔与光杆(8)上的孔用销钉(4)配合紧固,绕轴旋转架(5)的材质为钢板。

4.根据权利要求1所述的一种光杠杆法测距仪,其特征在于:所述固定架(6)为长方体结构,长120毫米,截面宽16毫米、厚3毫米,在距固定架(6)的一端面10毫米处有两孔,孔径为3毫米,该孔用于将固定架(6)固定在套筒(7)上,固定架(6)材质为钢板。

5.根据权利要求1所述的一种光杠杆法测距仪,其特征在于:所述镜面标尺(9)是在平面镜上用红色丝线做出刻度线,背面用双面胶固定于待测物的表面上,固定镜面标尺(9)时,应将镜面标尺(9)上的第一个刻度线与测距装置上激光笔(2)发出的激光点重合。

6.一种光杠杆法测距仪的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1:打开激光笔(2),让光线垂直照射到待测物的表面,将镜面标尺(9)粘贴到待测物上,且让镜面标尺(9)的最高刻度线与激光笔(2)发出的激光点重合;

步骤2:旋转螺旋测微器(3),利用光的反射路径与入射光路径重合,调平绕轴旋转架(5)的高度,并记录此时螺旋测微器(3)的读数n0

步骤3:继续同向旋转螺旋测微器(3),消除空程差,使激光笔(2)发出的激光在镜面标尺(9)上移动距离D,记录此时螺旋测微器(3)的读数n1

步骤4:用游标卡尺测量销钉(4)到螺旋测微器(3)顶尖之间的距离l,用刻度尺测量步骤3中的距离D,螺旋测微器(3)顶尖移动的距离为d=n1-n0,将测量数据代入公式d/D=l/L中,计算待测距离L。

7.根据权利要求6所述的一种光杠杆法测距仪的测量方法,其特征在于:测量时,旋转螺旋测微器(3)上的微分套筒(3-4),使螺旋测微器(3)的顶尖沿竖直方向移动,推动绕轴旋转架(5)的尾部绕销钉(4)转动,绕轴旋转架(5)的尾部移动的距离由螺旋测微器(3)读出,此时激光笔(2)发出的光线绕销钉(4)形成光杠杆,照在远处镜面标尺(9)上,记下此时激光点在镜面标尺(9)上的位置,则由公式d/D=l/L可计算出测距装置到镜面标尺(9)之间的距离L。

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