[发明专利]一种动态测量片状材料晶体织构的系统、设备及方法

权利要求书

1.一种动态测量片状材料晶体织构的系统，包括用于发射X射线的X射线管以及用于接收X射线并计算得出待测产品的晶体织构的X射线探测器，其特征在于，所述X射线管及X射线探测器分别设置于测角仪上，所述测角仪设置在第一旋转台上，所述第一旋转台设置在第二旋转台上，所述第一旋转台与第二旋转台的旋转轴相互垂直；所述系统还包括待测产品输送机构，用于将所述待测产品以连续或步进的方式输送经过所述X射线管及X射线探测器的检测点，其中，所述第一旋转台的旋转轴为Kai轴，所述第二旋转台的旋转轴为Phi轴，所述Phi轴垂直于待测产品表面平面，所述Kai轴为衍射面与待测产品表面平面的交线，所述衍射面指X射线管发射的入射线与所述X射线探测器接收的衍射线所在的平面。

2.如权利要求1所述的动态测量片状材料晶体织构的系统，其特征在于，所述第一旋转台和第二旋转台分别由电机带动转动，所述电机连接到控制器。

3.如权利要求1所述的动态测量片状材料晶体织构的系统，其特征在于，所述X射线管和X光探测器的旋转轴线位于所述测角仪实体之外。

4.如权利要求1或2所述的动态测量片状材料晶体织构的系统，其特征在于，所述第一旋转台的转动范围至少为0-95度；所述第二旋转台的转动范围至少为-75至+75度。

5.如权利要求1所述的动态测量片状材料晶体织构的系统，其特征在于，所述待测产品输送机构上设有高度调节装置。

6.如权利要求5所述的动态测量片状材料晶体织构的系统，其特征在于，所述高度调节装置包括有升降台，所述升降台由两个相邻但不接触的滚轮构成，两个滚轮安装到一个共同的支架上，支架下方设置升降机构。

7.如权利要求2所述的动态测量片状材料晶体织构的系统，其特征在于，还包括有设置在待测产品上的标志以及与所述控制器连接的传感器，所述传感器用于读取识别待测产品上的标志，并将信息发送给所述控制器，以实现自动控制。

8.如权利要求7所述的动态测量片状材料晶体织构的系统，其特征在于，所述待测产品表面涂覆有磁性材料，所述标志为录制在所述磁性材料上的声音标记，所述传感器为磁头。

9.如权利要求7所述的动态测量片状材料晶体织构的系统，其特征在于，所述标志为设置在所述待测产品表面的可视化标记，所述传感器为成像装置。

10.一种包括权利要求1-9任意一项所述动态测量片状材料晶体织构的系统的设备。

11.一种利用权利要求1-9任意一项所述动态测量片状材料晶体织构的系统测量片状材料晶体织构的方法，其特征在于，适用于材料晶体性质会有变化的产品，其步骤包括：

S1：将待测产品送入检测系统，并将所述系统转动到预设的角度；

S2：通过测角仪的转动对待测产品做theta-2theta扫描以获得准确的2theta角，然后把测角仪转动到准确测量到的2theta位置；

S3：通过第一旋转台的转动对待测产品做Kai扫描以确定准确的Kai角，然后转动第一旋转台至准确的Kai角位置；

S4：控制待测产品以连续或步进的方式移动，通过第二旋转台的转动对待测产品做phi扫描得到样品平面内织构。

12.如权利要求11所述的测量片状材料晶体织构的方法，其特征在于，所述步骤S1与S2之间还包括：

S1’：首先预设Phi角为0度，Kai角为90度，在预设的2theta角下，通过测角仪的转动做Omega扫描，得到晶体平面外取向偏离样品表面法向的角度，该角度为X射线管和X光探测器的转角的偏移量；

S1’’：根据所述步骤S1’得到的转角的偏移量，对衍射仪各个轴进行修正。