[发明专利]一种量子点表面配体覆盖率的测定方法有效
申请号: | 201711354387.0 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN109932373B | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 覃辉军;叶炜浩;杨一行 | 申请(专利权)人: | TCL科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;刘文求 |
地址: | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 量子 表面 覆盖率 测定 方法 | ||
1.一种量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,包括:
提供样品颗粒,所述样品颗粒中的单个颗粒包括量子点和结合在所述量子点表面的有机配体,所述的有机配体选自脂肪羧酸配体、含氮的有机配体、含磷的有机配体或含硫的有机配体;
其中,当量子点表面的有机配体为脂肪羧酸配体时,所述量子点中不含氧元素;当量子点表面的有机配体为含氮的有机配体时,所述量子点中不含氮元素;当量子点表面的有机配体为含磷的有机配体时,所述量子点中不含磷元素;当量子点表面的有机配体为含硫的有机配体时,所述量子点中不含硫元素;
测定所述样品颗粒中颗粒的平均粒径;
将所述样品颗粒置于能谱分析仪中,对样品颗粒中各元素含量的数据进行采集,得到样品颗粒中所含各元素的含量曲线;
对含量曲线中各元素种类进行标定,计算得到量子点表面配体覆盖率Ki;
所述表面配体覆盖率Ki为量子点表面单位面积内结合表面配体的物质的量,Ki=ml/(0.74MlmQSq/ρQVq),其中,m1为量子点表面配体中特殊官能团中特征元素的质量,M1量子点表面配体中特殊官能团中特征元素的摩尔分子质量,mQ为样品颗粒的总质量,ρQ为密度,Sq为样品颗粒中单个颗粒表面积,Vq为体积。
2.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,对含量曲线中各元素种类进行标定,得到有机配体中特征元素与样品颗粒的质量比,计算得到所述量子点表面配体覆盖率Ki,其中,当量子点表面的有机配体为脂肪羧酸配体时,所述有机配体中的特征元素为氧元素;当量子点表面的有机配体为含氮的有机配体时,所述有机配体中的特征元素为氮元素;当量子点表面的有机配体为含磷的有机配体时,所述有机配体中的特征元素为磷元素;当量子点表面的有机配体为含硫的有机配体时,所述有机配体中的特征元素为含硫元素。
3.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,所述含磷的有机配体选自烷基磷、烷基氧膦或烷基磷酸;
所述含硫的有机配体选自一硫醇、二硫醇、巯基醇、巯基胺或巯基酸;
所述含氮的有机配体为碳原子数大于8的有机胺;
所述的脂肪羧酸配体选自C原子数在8~18之间的脂肪酸。
4.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,选定待检测样品颗粒后,将所述样品颗粒置于能谱分析仪中,对样品颗粒中各元素含量的数据进行采集,得到所含各元素的含量曲线,所述选定待检测样品颗粒的步骤包括:将所述颗粒置于扫描电镜中的样品座上,在所述颗粒表面镀上一层导电膜,设置放大倍数为200-1500倍,选择颗粒集中区域的颗粒为待检测样品颗粒。
5.根据权利要求4所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,所述导电膜选自Au导电膜、Ag导电膜或Pt导电膜。
6.根据权利要求4所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,选择的颗粒集中区域的区域大小为25 -400um2。
7.根据权利要求4所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,对所述样品颗粒中各元素含量的数据进行采集,得到样品颗粒中所含各元素的含量曲线的步骤包括:选择5-10个颗粒集中区域的颗粒为待检测样品颗粒,将所述待检测样品颗粒置于能谱分析仪中,对所述待检测样品颗粒中各元素含量的数据进行采集,得到所含5-10组待检测样品颗粒的各元素的含量曲线。
8.根据权利要求2所述量子点表面配体覆盖率的测定方法,其特征在于,根据含量曲线中各元素的积分面积得到各元素的相对质量,计算得到有机配体中特征元素与样品颗粒的质量比。
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