[发明专利]一种基于PXI架构的卫星测控地面综合测试系统

说明书

本发明公开了一种基于PXI架构的卫星测控地面综合测试系统，包括:PXI机箱，包括多个槽位；主控板卡，其集成在所述PXI机箱上，用于运行LabVIEW上位机软件；信号收发板卡，其集成在所述PXI机箱上，用于支持65MHz到6GHz全频段射频信号的生成与接收；FPGA板卡，其集成在所述PXI机箱上，用于实时处理基带遥测数据；其中，PXI机箱上集成一套或多套信号收发板卡和FPGA板卡；所述测控地面综合测试系统基于软件无线电平台，支持中频全数字化处理；其中，所述信号收发板卡和FPGA板卡通过Peer To Peer方式进行数据传输，所述主控板卡与信号收发板卡和FPGA板卡通过队列形式进行数据传输。本发明的基于PXI架构的卫星测控地面综合测试系统实现多通道的测试，并能在USB测控体制和扩频测控体制下自由切换。

技术领域

本发明涉及卫星测试设备领域，具体涉及一种基于PXI架构的卫星测控地面综合测试系统。

背景技术

测控系统主要负责遥控、遥测信号在卫星与地面站之间的传输，以及地面测控网对卫星的测距和测速。由于测控系统是地面对在轨卫星进行控制和与在轨卫星进行数据交换的唯一途径，所以必须具有高度的可靠性，因此，在卫星发射之前，要依赖地面测试设备对测控系统进行严格的测试，测控系统的测试指标多样，测试流程复杂，因此需要测试设备能够满足差异化的测试需求。为了满足商业化卫星批量生产，并行测试的要求，则需要设计集成化的测控地面综合测试系统。

传统的针对测控系统的地面测试设备只能满足测控系统的基本测试需求，且只能进行单通道测试，大多采购自国外，成本高昂，且技术服务不及时，并且由于技术保护等原因，难以对功能进行本地化修改来满足差异化的测试要求，因此导致测试效率不高，同时测试成本居高不下，制约了商业卫星产业的发展。

发明内容

为了解决现有技术中存在的问题，本发明提供了一种基于PXI架构的卫星测控地面综合测试系统，混合多槽位的PXIe机箱为载体，以PXIe控制器为控制核心，集成多套收发板卡和FPGA板卡，进行多通道的集成测试。

本发明还提供一种基于PXI架构的卫星测控地面综合测试系统，其软件基于软件无线电平台编写，并通过VST板卡精准实现射频和中频信号的转换，从而支持USB和扩频两种测控体制。

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下：

一种基于PXI架构的卫星测控地面综合测试系统，包括：

PXI机箱，包括多个槽位；

主控板卡，其集成在所述PXI机箱上，用于运行LabVIEW上位机软件；

信号收发板卡，其集成在所述PXI机箱上，用于支持65MHz到6GHz全频段射频信号的生成与接收；

FPGA板卡，其集成在所述PXI机箱上，用于实时处理基带遥测数据；

其中，所述PXI机箱上集成一套或多套信号收发板卡和FPGA板卡；

其中，所述信号收发板卡和FPGA板卡通过Peer To Peer方式进行数据传输，所述主控板卡与信号收发板卡和FPGA板卡通过队列形式进行数据传输；

所述测控地面综合测试系统基于软件无线电平台，支持中频全数字化处理。

优选的是，所述PXI机箱为PXIe-1085机箱。

优选的是，所述主控板卡为PXIe-8880主控板卡，其具有8核Core i7处理器。

优选的是，所述信号收发板卡为PXIe-5644R矢量信号收发板卡或PXIe-5645R矢量信号收发板卡，用于射频和中频信号的转换。