[发明专利]一种定量评价复合绝缘子表面粉化粗糙度的方法有效
| 申请号： | 201711364700.9 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN108180871B | 公开（公告）日： | 2019-12-06 |
| 发明（设计）人： | 陈田;周求宽;尹桂来;张宇;辛建波;李唐兵 | 申请（专利权）人： | 国网江西省电力有限公司电力科学研究院;国家电网公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;G01N21/95 |
| 代理公司： | 36122 南昌市平凡知识产权代理事务所 | 代理人： | 姚伯川<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 330096 江西*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 复合绝缘子 粗糙度 可见光图像 表面粉化 定量评价 图像表面 提取图像特征 有效特征参数 表面粗糙度 定量表征 读取图像 精准判断 矩阵数列 老化特征 输电线路 提取图像 现场采集 比对 带电 算法 拍摄 检测 | ||
【权利要求书】：
1.一种定量评价复合绝缘子表面粉化粗糙度的方法，其特征在于，所述方法的步骤如下：
(1)基于图像处理技术，利用matlab软件编辑算法，提取复合绝缘子可见光图像，进行复合绝缘子表面粗糙度的定量表征；
(2)依靠无人机拍摄，以非接触的形式，在待测复合绝缘子带电情况下进行检测；
(3)通过现场采集待测复合绝缘子的可见光图像，提取图像特征参数，通过与已知表面粗糙度的比对，精确评价图像表面粗糙度；
利用matlab软件按以下步骤计算图像表面粗糙度Fcrs：
首先计算可见光图像中每个像素元素u(i,j)在2k邻域内的平均灰度值A(i,j,k)：
计算每个像素点领域内的灰度均值A(i,j,k)在水平Eh(i,j)和垂直Ev(i,j)方向上不重叠窗口之间的差值：
对每个像素点计算使E达到最大值的k，每个像素点的最优窗口大小为2kmax：
Sbert(i,j)＝2^max(max(Eh(i,j)),max(Ev(i,j)))
所有Sbest(i,j)的均值作为整幅图片的粗糙度Fcrs：
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