[发明专利]大气中子下SRAM单粒子效应检测数据区分方法和系统

权利要求书

1.一种大气中子下SRAM单粒子效应检测数据区分方法，其特征在于，包括以下步骤：

对SRAM器件进行大气中子单粒子效应实时检测，获取所述SRAM器件的总失效率；

获取由阿尔法粒子导致的SRAM器件的第一失效率；所述阿尔法粒子来源于所述SRAM器件自身的放射性材料成分；

获取由热中子导致的SRAM器件的第二失效率；

根据所述总失效率、所述第一失效率和所述第二失效率获取由大气中子导致的SRAM器件的目标失效率；

对SRAM器件进行大气中子单粒子效应实时检测，获取所述SRAM器件的总失效率包括：

搭建大气中子单粒子效应检测系统，记录检测过程中SRAM器件发生的单粒子翻转情况，得到所述SRAM器件在大气中子单粒子效应实时检测环境下的总失效率。

2.根据权利要求1所述的大气中子下SRAM单粒子效应检测数据区分方法，其特征在于，所述获取由阿尔法粒子导致的SRAM器件的第一失效率的步骤包括以下步骤：

通过阿尔法粒子放射源对所述SRAM器件进行辐照，获取所述SRAM器件的阿尔法粒子单粒子效应截面参数；

获取所述SRAM器件自身放射的阿尔法粒子通量；

根据所述阿尔法粒子单粒子效应截面参数和所述阿尔法粒子通量获取所述SRAM器件的第一失效率。

3.根据权利要求1所述的大气中子下SRAM单粒子效应检测数据区分方法，其特征在于，所述获取由阿尔法粒子导致的SRAM器件的第一失效率的步骤包括以下步骤：

通过粒子加速器对所述SRAM器件进行辐照，获取所述SRAM器件的阿尔法粒子单粒子效应截面参数，其中，所述粒子加速器的粒子源为阿尔法粒子；

获取所述SRAM器件自身放射的阿尔法粒子通量；

根据所述阿尔法粒子单粒子效应截面参数和所述阿尔法粒子通量获取所述SRAM器件的第一失效率。

4.根据权利要求2或3所述的大气中子下SRAM单粒子效应检测数据区分方法，其特征在于，所述根据所述阿尔法粒子单粒子效应截面参数和所述阿尔法粒子通量获取所述SRAM器件的第一失效率的步骤包括以下步骤：

根据以下函数关系式获取所述SRAM器件的第一失效率：

λ₁＝σ_阿尔法×F_阿尔法×10⁹

式中，λ₁为所述第一失效率，σ_阿尔法为所述阿尔法粒子单粒子效应截面参数，F_阿尔法为所述阿尔法粒子通量。

5.根据权利要求1所述的大气中子下SRAM单粒子效应检测数据区分方法，其特征在于，所述获取由热中子导致的SRAM器件的第二失效率的步骤包括以下步骤：

通过热中子反应堆对所述SRAM器件进行辐照，获取所述SRAM器件的热中子单粒子效应截面参数；

获取大气中子单粒子效应实时检测环境的热中子通量；

根据所述热中子单粒子效应截面参数和所述热中子通量获取所述SRAM器件的第二失效率。

6.根据权利要求5所述的大气中子下SRAM单粒子效应检测数据区分方法，其特征在于，所述根据所述热中子单粒子效应截面参数和所述热中子通量获取所述SRAM器件的第二失效率的步骤包括以下步骤：

根据以下函数关系式获取所述SRAM器件的第二失效率：

λ₂＝σ_热中子×F_热中子×10⁹

式中，λ₂为所述第二失效率，σ_热中子为所述热中子单粒子效应截面参数，F_热中子为所述热中子通量。