[发明专利]单源真多能X射线透视与散射融合安检系统

权利要求书

1.单源真多能X射线透视与散射融合安检系统，其特征在于，所述安检系统中的信号探测单元包括：散射探测器和透视探测器，所述散射探测器和透视探测器针对单射线源的单次曝光同步进行X射线散射探测和真多能透视信号探测，形成在空间和时间相互匹配的散射图像和透视图像。

2.根据权利要求1所述的单源真多能X射线透视与散射融合安检系统，其特征在于，所述散射探测器采用阵列式散射探测器，且在接收面前端设置有准直器。

3.根据权利要求2所述的单源真多能X射线透视与散射融合安检系统，其特征在于，所述阵列式散射探测器中由光敏器件与闪烁体贴合形成单个像素点，多个像素点规则排列，形成阵列式的X射线接收面，在接收面前端安装有准直器。

4.根据权利要求1所述的单源真多能X射线透视与散射融合安检系统，其特征在于，所述透视探测器基于光子计数在单射线源单次曝光时同时采集3个及以上真能量的透视图像。

5.根据权利要求4所述的单源真多能X射线透视与散射融合安检系统，其特征在于，所述透视探测器主要由可单光子计数的光电传感器件耦合闪烁体来构成。

6.根据权利要求1所述的单源真多能X射线透视与散射融合安检系统，其特征在于，所述散射探测器和透视探测器受同样的同步信号控制，同时散射探测器通过前端准直器控制其接受范围，使其与与透视探测器接收角度相同。

7.根据权利要求1所述的单源真多能X射线透视与散射融合安检系统，其特征在于，所述系统对接收到在空间和时间上相互匹配的散射图像与透视图像进行融合，获取物质的密度信息和相对原子序数信息，以对物质进行细分。