[发明专利]一种玻璃缺陷的检测方法及装置

权利要求书

1.一种玻璃缺陷的检测方法，其特征在于，包括：

根据预设滤波器组参数，训练无缺陷图像，得到无缺陷图像的能量响应结果，所述无缺陷图像的能量响应结果包括无缺陷图像的滤波能量均值和无缺陷图像的滤波能量标准差；

根据所述预设滤波器组参数，滤波实时图像，得到实时图像的滤波结果；

根据所述实时图像的滤波结果，估计实时图像的滤波能量响应结果，所述实时图像的滤波能量响应结果包括实时图像的滤波能量均值；

根据所述无缺陷图像的能量响应结果和所述实时图像的滤波能量响应结果，绘制单位缺陷图像；

根据所述单位缺陷图像，绘制整体缺陷图像；

其中，按照下述步骤绘制单位缺陷图像：

计算所述无缺陷图像的滤波能量均值与所述实时图像的滤波能量均值的能量差异；

根据预设敏感度系数和所述无缺陷图像的滤波能量标准差，阈值化所述能量差异，得到阈值化能量差异；

归一化所述阈值化能量差异，得到归一化结果；

根据所述归一化结果，绘制单位缺陷图像；

按照下列步骤绘制整体缺陷图像：

遍历全部所述归一化结果，根据相同尺度且不同方向的规则，分组所述归一化结果为子归一化结果组；

计算各所述子归一化结果组的算术平均融合值，得到算术平均融合结果；

遍历全部所述算术平均融合结果，根据预设相邻尺度，分组所述算术平均融合结果为相邻融合结果组；

计算所述相邻融合结果组的几何平均融合值，得到几何平均融合结果；

计算所述几何平均融合结果的算术平均值，得到算术平均结果；

根据所述算术平均结果，绘制整体缺陷图像。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，

使用第一滤波器组检测结石缺陷，使用第二滤波器组检测气泡缺陷；

所述第一滤波器组设定为多方向、低频滤波器组；

所述第二滤波器组设定为固定方向滤波器组。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，按照下述步骤确定预设滤波器组参数：

获取带缺陷玻璃的参考图像，并识别缺陷点；

在所述参考图像上，建立直角坐标系；

获取所述缺陷点在所述直角坐标系内的缺陷点坐标；

获取所述第一滤波器组和所述第二滤波器组内各滤波器在所述直角坐标系内的单位滤波器坐标；

根据所述缺陷点坐标与所述单位滤波器坐标，确定所述第一滤波器组与所述第二滤波器组的工作参数。