[发明专利]选择离子筛除设备以及方法

权利要求书

1.一种选择离子筛除设备，其特征在于，包括连接飞行时间质量分析器的脉冲电源；

所述脉冲电源调节脉冲参数，向所述飞行时间质量分析器反射区的反射板输出反射脉冲；所述脉冲参数包括脉冲个数；所述脉冲个数为所述脉冲电源通过调节脉冲频率得到；

所述反射板根据所述反射脉冲，对到达所述反射板上的待选择离子进行定量筛除；其中，所述反射板根据所述反射脉冲，对到达所述反射板上的待选择离子进行定量筛除，得到需筛除的离子和需保留的离子；

所述反射板对所述需筛除的离子进行预设筛除次数的筛除；所述预设筛除次数为所述反射脉冲的脉冲个数；所述反射板对所述需保留的离子进行预设反射次数的反射，使得所述需保留的离子进入所述飞行时间质量分析器的检测区。

2.根据权利要求1所述的选择离子筛除设备，其特征在于，所述脉冲参数还包括脉冲延时和脉冲宽度。

3.根据权利要求1所述的选择离子筛除设备，其特征在于，所述飞行时间质量分析器的调制区、加速区、无场飞行区、反射区和检测区均设有栅网。

4.根据权利要求3所述的选择离子筛除设备，其特征在于，

所述反射区包括第一级反射区；

或

所述反射区包括第一级反射区和第二级反射区。

5.根据权利要求3所述的选择离子筛除设备，其特征在于，所述检测区为双微通道板离子检测器。

6.根据权利要求1至5任意一项所述的选择离子筛除设备，其特征在于，推斥脉冲的单个脉冲周期、引出脉冲的单个脉冲周期以及所述反射脉冲的单个脉冲周期均相同；

所述推斥脉冲为施加在所述飞行时间质量分析器调制区推斥板上的脉冲；

所述引出脉冲为施加在所述飞行时间质量分析器加速区引出板上的脉冲。

7.根据权利要求6所述的选择离子筛除设备，其特征在于，所述推斥脉冲和所述引出脉冲的脉冲个数相同。

8.根据权利要求7所述的选择离子筛除设备，其特征在于，

所述反射脉冲的脉冲个数小于或等于所述推斥脉冲的脉冲个数；

或

所述反射脉冲的脉冲个数小于或等于所述引出脉冲的脉冲个数。

9.根据权利要求8所述的选择离子筛除设备，其特征在于，

所述预设反射次数为所述推斥脉冲或所述引出脉冲的脉冲个数与所述反射脉冲的脉冲个数的差值。

10.一种选择离子筛除方法，其特征在于，包括以下步骤：

调节脉冲参数，向飞行时间质量分析器反射区的反射板输出反射脉冲；所述脉冲参数包括脉冲个数；所述脉冲个数为脉冲电源通过调节脉冲频率得到；

所述反射脉冲用于指示所述反射板对到达所述反射板上的待选择离子进行定量筛除；其中，所述反射板根据所述反射脉冲，对到达所述反射板上的待选择离子进行定量筛除，得到需筛除的离子和需保留的离子；

所述反射板对所述需筛除的离子进行预设筛除次数的筛除；所述预设筛除次数为所述反射脉冲的脉冲个数；所述反射板对所述需保留的离子进行预设反射次数的反射，使得所述需保留的离子进入所述飞行时间质量分析器的检测区。