[发明专利]一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头

权利要求书

1.一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：包括光源探针、检测探针、固定装置，其中光源探针、检测探针平行设置在固定装置上，光源探针上设置的出射窗正对着检测探针上设置的入射窗；光源探针内安装有出射光线发出装置，检测探针内安装有检测装置，出射光线发出装置将出射光传导至出射窗进入到固体颗粒物，出射光经过固体颗粒物形成的透射光经入射窗进入即得到入射光线，入射光线被检测装置接收，检测装置将接收到入射光线的光信号转换为电信号传输出去。

2.根据权利要求1所述一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：所述检测装置包括分光元件、阵列探测器，入射窗、分光元件、阵列探测器依次排列；入射光线经过分光元件分光后到达阵列探测器，阵列探测器将入射光线的光信号转换为电信号传输出去。

3.根据权利要求2所述一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：所述分光元件光纤阵列板、滤光片阵列，入射窗、光纤阵列板、滤光片阵列、阵列探测器依次排列。

4.根据权利要求3所述一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：所述光纤阵列板为M个平行排列的短光纤，用于限制进入滤光片阵列的入射光线的角度，其中M≥1；所述滤光片阵列为N个窄带滤光片或者线性渐变滤光片组成的阵列，其中N≥1。

5.根据权利要求3所述一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：所述滤光片阵列为一维滤光片阵列，所述阵列探测器为线阵列探测器，或者所述滤光片阵列为二维滤光片阵列，所述阵列探测器为面阵列探测器。

6.根据权利要求1所述一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：所述出射光线发出装置包括第一光源、出射光纤束、第一反射镜，其中出射光纤束将第一光源的光传导至第一反射镜，经第一反射镜改变方向后经过出射窗进入到固体颗粒物中。

7.根据权利要求6所述一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：所述第二反射镜为平面反射镜或者长边镀有反射膜的实体直角棱镜。

8.根据权利要求7所述一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：所述长边镀有反射膜的实体直角棱镜与出射窗分体设置，或者与出射窗合并为一个实体棱镜。

9.根据权利要求1所述一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：所述出射光线发出装置包括第二光源，第二光源置于光源探针中且正对着出射窗，第二光源发出的光直接经过出射窗进入到固体颗粒物中。

10.根据权利要求1所述一种用于固体颗粒物光谱无损检测的双探针透射式探头，其特征在于：所述出射光线发出装置采用在600～1100nm波段有连续分布的宽光谱光源，所述宽光谱光源包括卤钨灯光源、宽光谱LED；所述光源探针、检测探针之间的间距为1cm～5cm。