[发明专利]通过采样时刻的变化进行ADC误差补偿的激光测距模块有效
申请号: | 201711372150.5 | 申请日: | 2017-12-19 |
公开(公告)号: | CN108226905B | 公开(公告)日: | 2021-12-14 |
发明(设计)人: | R·沃尔格南特;S·贝斯特勒;J·辛德林 | 申请(专利权)人: | 赫克斯冈技术中心 |
主分类号: | G01S7/4861 | 分类号: | G01S7/4861;G01S17/08 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 吕俊刚;杨薇 |
地址: | 瑞士赫*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通过 采样 时刻 变化 进行 adc 误差 补偿 激光 测距 模块 | ||
1.一种用于确定离目标物体的距离的测距方法,所述测距方法用于激光测距装置,所述测距方法包括以下步骤
·发射发送信号作为发送信号序列,
·接收所述发送信号序列中的所述发送信号的在所述目标物体处反射的至少部分,作为接收信号序列(17)中的接收信号(16A、16B),
·借助于模数转换器将所述接收信号序列中的所述接收信号数字化成数字信号序列中的数字信号(11、14A、14B),所述模数转换器在以下称为ADC,ADC采样模式(18)由至少两个ADC转换级(22A、22B、22C、22D)生成,以及
·处理所述数字信号序列,以便导出离所述目标物体的距离,
其中
·所述ADC采样模式(18)相对于接收信号限定具有所述接收信号的至少一个初始采样点(20、20A、20B)的初始信号采样模式(19),并且
·所述接收信号序列(17)中的接收信号按如下方式借助于第一时间移位相对于所述ADC采样模式(18)在时间上移位:所述至少一个初始采样点(20、20A、20B)由第一ADC转换级(22A、22B、22C、22D)检测至少一次并且由第二ADC转换级(22A、22B、22C、22D)检测至少一次。
2.根据权利要求1所述的测距方法,
其中
所述接收信号序列(17)中的接收信号借助于第二时间移位相对于所述ADC采样模式(18)另外在时间上移位,使得在所述至少一个初始采样点(20、20A、20B)周围的限定采样范围内,出现所述接收信号的多个二次采样点(21),所述二次采样点在每种情况下都移位ADC时钟信号的周期持续时间的一部分,并且这导致对所述至少一个初始采样点(20、20A、20B)周围的具有变化信号值的不同信号位置进行采样。
3.根据权利要求1或2所述的测距方法,
其中
所述发送信号基于发送时钟被发射,并且所述接收信号基于ADC时钟被检测,其中,在测量处理的背景下满足以下条件中的至少一个:
·所述发送时钟相对于所述ADC时钟是异步的,
·所述发送时钟的周期持续时间和/或所述发送信号的周期持续时间不同于所述ADC时钟信号的周期持续时间或者不同于所述ADC时钟信号的周期持续时间的整数倍,以及
·与所述发送时钟频率和/或与所述发送信号的重复率相对应的发送周期Ts被给出为Ts=(n+q)*TADC,其中,n是整数,q是绝对值1的分数,并且TADC是所述ADC时钟信号的周期持续时间,其中,针对所使用的ADC转换级的数量c,满足条件n模c≠0。
4.根据权利要求1或2所述的测距方法,
其中
所述接收信号序列(17)中的接收信号利用限定数量的第一时间移位相对于所述ADC采样模式(18)移位,其中,第一时间移位的数量基于以下组中的至少一个元素来设定:
·由所使用的ADC转换级(22A、22B、22C、22D)中的每个对所述至少一个初始采样点进行采样的限定最小数量,
·用于确定所述距离的限定测量准确度,
·所述接收信号的测量信号值,以及
·预定义测量时间。
5.根据权利要求1或2所述的测距方法,
其中
所述接收信号序列(17)中的接收信号利用限定数量的第二时间移位相对于所述ADC采样模式(18)移位,结果是,通过限定数量的二次采样点(21)对采样范围进行采样,其中,二次采样点的数量基于以下组中的至少一个元素来设定:
·相互不同的二次采样点的限定最小数量,
·用于确定所述距离的限定测量准确度,
·所述接收信号的测量信号值,以及
·预定义测量时间。
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