[发明专利]一种射线束角度测试方法

说明书

本发明公开一种射线束角度测试方法,步骤为：S1制作一个指示试块，包括一个底座和一根穿插在底座上的金属丝;S2确保检测面与胶片平行，将指示试块放置于所需检测的区域边界处，与产品一同进行射线检测透照,其影像随产品影像同时保存；S3在底片影像上测量出指示试块的金属丝沿焊缝垂直方向的投影长度，即垂直长度L;S4利用几何比例关系，可以计算出指示试块投影的垂直长度L是否满足要求。本发明在对产品进行射线检测时，与产品一起检测，将射线束角度信息通过高密度金属丝的影像与焊缝影像一并记录保存，还原了产品的射线束角度信息，达到了可追溯的目的。本发明经济、且显著的提高射线束角度的质量控制，极大的提高检测可靠性。

技术领域

本发明涉及射线检测技术领域，特别是射线束的入射角度检测技术领域。

背景技术

射线检测作为一种常规的无损检测方法广泛应用于各制造行业中，主要用于对焊接件、铸件、复合材料蜂窝夹层结构等内部质量的检测。在该方法众多的关键工艺参数中，射线束的入射角度是非常关键的检测参数，角度控制的好坏将直接影响检测结果和检测质量，一旦控制方法失效，将降低检测可靠性，并且存在漏检风险。因此，在射线检测中对角度的控制尤为重要。

在众多的被检测对象(如焊接件、铸件、复合材料蜂窝夹层结构等)及检测级别要求(A级、B级等)中，分别有着不同的射线束角度控制要求，有的要求射线束锥角边界控制在±13.9°(透照厚度比K要求为1.03时)，有的要求控制在±8.1°(透照厚度比K要求为1.01时)，甚至有的要求控制在±2°(检测电子束焊缝时)，因此其角度控制难度参差不齐，造成的质量风险也参差不同。特别是对于角度控制最严格的±2°，射线检测时必须要有远高于传统检测的射线束角度控制方法，方可保证检测质量。

目前，对射线束角度的控制主要采用理论计算的方法来计算出实际的透照位置，将所有已知的参数(如焦点距离、中心点位置、所需控制的角度等)作为输入量后，最终计算出被检产品与中心点的位置距离。如果焦点距离、中心点位置存在理论值与实际值的偏差，则可能导致最终位置不符合要求，存在质量隐患。同时，国内外标准中(如ASTM E 1742、HB20160-2014等)对于真空电子束焊缝的射线检测仅要求了角度不大于±2°，而未提及进行过程控制、结果控制及记录要求，即使按要求完成检测后，也无法在射线底片上对检测时所使用的真实射线束角度进行复查射线束角度是否满足要求，仅能靠过程控制进行角度控制，存在较大质量隐患。难以确保检测过程质量的可追溯性。因此，原有技术存在着可靠性低、过程质量无法追溯的问题。

发明内容

为完成对射线检测中关键工艺参数——射线束角度信息的记录及测试，本方法发明基于射线源、射线束、底片与产品之间存在的几何比例关系，提供一种射线束角度测试方法。

本发明的技术方案为：

一种射线束角度测试方法,步骤为：

S1制作一个指示试块，包括一个底座和一根穿插在底座上的金属丝；

S2确保检测面与胶片平行，将指示试块放置于所需检测的区域边界处，与产品一同进行射线检测透照,其影像随产品影像同时保存；

S3在底片影像上测量出指示试块的金属丝沿焊缝垂直方向的投影长度，即垂直长度L；

S4利用几何比例关系，可以计算出指示试块投影的垂直长度L是否满足要求。

所述步骤S4中，垂直长度L与最大允许角度的关系式为：

式中：

F——射线源到胶片的垂直距离，单位为毫米(mm)；

l——指示试块的高度，单位为毫米(mm)；

T——指示试块距胶片的距离(本方案中等同于被检电子束焊接件焊缝高度)，单位为毫米(mm)。