[发明专利]估计消融期间的温度有效

专利信息
申请号: 201711376778.2 申请日: 2017-12-19
公开(公告)号: CN108201467B 公开(公告)日: 2023-08-18
发明(设计)人: A.戈瓦里;A.C.阿尔特曼恩;A.普雷斯曼;D.伯曼 申请(专利权)人: 韦伯斯特生物官能(以色列)有限公司
主分类号: A61B18/12 分类号: A61B18/12;A61B18/14
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 徐予红;杨美灵
地址: 以色列*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 估计 消融 期间 温度
【权利要求书】:

1.一种用于估计温度的设备,包括:

电接口;和

处理器,所述处理器被配置成:

经由所述电接口来接收由体内探头的远侧端部处的温度传感器感测到的温度,

基于所感测到的温度和由所述体内探头的所述远侧端部处的消融电极驱动到受检者的组织中的消融电流的参数来估计所述组织在所述组织和所述消融电极的界面处的温度,以及

响应于所估计的温度来生成输出,

其中所述处理器被配置成通过以下步骤来估计所述组织的所述温度:

响应于所述参数来选择系数,以及

使基于所感测到的温度的值乘以所述系数,

其中所述处理器被配置成将所述组织的所述温度估计为T0+α(TI-T0),TI为所感测到的温度,α为所述系数,并且T0为基于温度T_0的量,所述温度T_0在驱动所述消融电流之前由所述温度传感器感测到。

2.根据权利要求1所述的设备,其中,所述参数包括所述消融电流的功率。

3.根据权利要求1所述的设备,其中,所述参数包括所述消融电流的幅值。

4.根据权利要求1所述的设备,其中,所述处理器还被配置成将T0计算为T_0-β,β为取决于在驱动所述消融电流之前由所述温度传感器感测到的温度的稳定性的校正因子。

5.根据权利要求1所述的设备,其中,所述处理器被配置成通过计算所述系数来选择所述系数。

6.根据权利要求5所述的设备,其中,所述处理器被配置成通过将所述参数代入到所述系数的闭型表达式中来计算所述系数。

7.一种用于估计温度的设备,包括:

用于使用包括消融电极、位于所述消融电极内的至少一个内部温度传感器、和位于所述消融电极的表面处的至少一个表面温度传感器的探头来以不同相应幅值的消融电流来执行多次组织消融的部件;

用于在所述消融中的每次消融期间使用所述内部温度传感器来感测内部温度并且使用所述表面温度传感器来感测表面温度的部件;以及

用于使用处理器来学习所感测的内部温度与所感测的表面温度之间的关系的部件,

其中所述关系由等式TS=T0+α(TI-T0)来表达,α为系数,TS为所感测到的表面温度,TI为所感测到的内部温度,并且T0为基准温度,并且

其中用于学习所述关系的部件包括用于通过学习α对所述消融电流的所述幅值的依赖性来学习所述关系的部件。

8.根据权利要求7所述的设备,其中,用于学习α对所述消融电流的所述幅值的所述依赖性的部件包括用于通过对所述消融电流的所述幅值进行回归(TS-T0)/(TI-T0)来学习所述依赖性的部件。

9.根据权利要求8所述的设备,其中,用于对所述消融电流的所述幅值进行回归(TS-T0)/(TI-T0)的部件包括用于对所述消融电流的所述幅值进行二次回归(TS-T0)/(TI-T0)的部件。

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