[发明专利]一种电容检测仪

说明书

技术领域

本发明涉及到电容检测领域，尤其涉及到一种电容检测仪。

背景技术

电容是由两块金属电极之间夹一层绝缘电介质构成。电容容量的检测是判断电容是否符合标准的重要途径，但是目前对于电容的检测大多不够精准和高效，尤其是批量检测方面效率低下。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

发明内容

本发明提供一种电容检测仪,解决的电容的检测大多不够精准和高效，尤其是批量检测方面效率低下问题。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

一种电容检测仪，包括电源、多谐振荡模块、显示模块和检测模块；所述电源分别与所述多谐振荡模块、所述显示模块、所述检测模块连接；所述多谐振荡模块与所述检测模块连接；所述检测模块与所述显示模块连接；所述检测模块包括待测电容CX、合格电容允许的上限值电容CM、合格电容允许的下限值电容CN。

优选的技术方案，所述多谐振荡模块包括集成电路IC1、电容C1、电容C2、电阻R1、电阻R2和二极管D1；所述集成电路IC1的第3管脚经所述电容C1发出的耦合信号作为所述检测模块的触发控制信号；所述集成电路IC1为555芯片。

优选的技术方案，所述检测模块还包括集成电路IC2、IC3、IC4、电阻R3、R4、R5、门电路1、门电路3、门电路4、门电路5、门电路6和门电路7；所述电容CX处于所述电容CM与所述电容CN之间时，所述门电路6、所述门电路7的输出均为高电平；所述电容CX大于所述电容CM时，所述门电路6输出低电平、所述门电路7的输出高电平；所述电容CX小于所述电容CN时，所述门电路6输出高电平、所述门电路7的输出低电平。

优选的技术方案，所述显示模块包括集成电路IC5、集成电路IC6、电容C3、电容C4、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、三极管BG1、三极管BG2、发光二极管LED1和发光二极管LED2；所述电容CX处于所述电容CM与所述电容CN之间时，所述发光二极管LED1、LED2均不亮；所述电容CX大于所述电容CM时，所述发光二极管LED1亮而所述发光二极管LED2不亮。

优选的技术方案，所述电源为DC5V。

优选的技术方案，所述门电路1、门电路3、门电路4、门电路5均为非门；所述门电路6、门电路7均为与非门。

相对于现有技术的有益效果是，采用上述方案，本发明通过检测模块设置的待测电容以及确定检测范围的电容能够实现待测电容的精准检测，尤其是生产线上同样电容的批量检测，效率更高，支持热插拔，可以作为生产线上的电容检测环节，筛选出合格电容；对于不合格电容亦能够检测出更详细的故障原因，便于针对性改进，降低成本，提高生产效率。

附图说明

为了更清楚的说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需使用的附图作简单介绍，显而易见的，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的一种电容检测仪电路原理图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面结合附图和具体实施例，对本发明进行更详细的说明。附图中给出了本发明的较佳的实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本说明书所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本说明书所使用的术语“固定”、“一体成型”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，在图中，结构相似的单元是用以相同标号标示。

除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本发明。

如图1所示，本发明的一个实施例是：

一种电容检测仪，包括电源、多谐振荡模块、显示模块和检测模块；所述电源分别与所述多谐振荡模块、所述显示模块、所述检测模块连接；所述多谐振荡模块与所述检测模块连接；所述检测模块与所述显示模块连接；所述检测模块包括待测电容CX、合格电容允许的上限值电容CM、合格电容允许的下限值电容CN。