[发明专利]一种基于覆盖次数统计评价随机验证质量的方法及系统

说明书

本发明提供了一种基于覆盖次数统计评价随机验证质量的方法及系统，设置待覆盖的功能点、需统计覆盖次数的功能点、随机验证参数、覆盖次数统计结果输出条件、统计结果分析报警条件，进行随机验证，收集功能覆盖率以及功能覆盖次数，若覆盖次数统计结果输出条件满足，则输出覆盖次数统计结果，自动化初步分析，若不满足，则继续随机验证，发现异常情况进行报警。本发明提高了验证的健壮性，有效地减少人力资源和时间的耗费，提高研发效率。

技术领域

本发明涉及芯片设计的技术领域，具体涉及一种基于覆盖次数统计评价随机验证质量的方法及系统。

背景技术

随着工艺技术以及应用领域的不断发展，芯片的复杂度不断提高，相对应的，对于仿真验证工作的要求也在不断提高。不但需要进行仿真验证的功能点越来越繁复，而且验证周期的要求越来越严格。

现有的芯片设计流程中，分为前端设计(逻辑设计)和后端设计(物理设计)两个阶段。前端设计主要是以通过硬件描述语言(如verilog)来实现芯片的逻辑功能，而代码描述的正确性主要就是通过对这些代码(或是由这些代码生成的网表)的仿真验证来实现的。在标准的仿真验证流程中，需要确保的前端设计涉及到的逻辑功能的功能点，都需要通过构造相应的仿真场景，证实前段设计逻辑功能的正确性。

对复杂度较高的系统进行仿真验证，随机验证是一个重要的步骤，可以在尽可能减少人力的前提下覆盖更多复杂甚至是预期外的场景。随机化激励可以仅用几行代码就能产生大量的激励数据，通过为设计提供随机激励信号来扩大验证的测试空间。但是，当设计规模很大且非常复杂时，随机验证空间会变得近乎无限，于是需要给随机化过程施加一定的约束，使其按照约束生成随机化的激励，即让它生成的随机化的激励更多地落在有效的区域或者边界内，以更快地达到功能覆盖率的要求。因此，随机约束的选择也决定了随机验证的效率。约束过于宽泛会造成随机出来的场景大部分都是没有意义的，约束过于严格又会限制随机出的场景类型。

在现有的仿真验证中，都是以覆盖率作为评价验证充分程度的标准，对于规模比较小的设计，可以统计代码覆盖率来评价验证程度，但在大规模以及超大规模的芯片设计中，用代码覆盖率既低效又不准确，往往通过自定义的功能点的覆盖率作为标准。在基于功能点覆盖率驱动的随机验证中，对于不同随机约束构造的随机验证，评价优劣的唯一的标准就是能否在更短的时间内覆盖到更多更全的功能点。

用功能点覆盖与否作为衡量随机验证的唯一标准，需要假设一个前提就是功能点提取是正确的和完备的。这实际上就降低了随机验证的作用，随机验证不只是为了节省在定向验证中投入的人力，它更重要的作用是提供研发人员预期外的一些测试场景，弥补研发人员可能的疏漏，并测试设计的各种异常处理。

即便功能点的提取是正确的和完备的，但是因为功能点与逻辑设计未必是一一对应关系，也就是说同一个功能点的覆盖，可能是通过不同的逻辑状态转换得来的。一个功能点覆盖到了，并不代表它背后的所有逻辑都覆盖到了。定向验证可以只关注功能点，尽可能地保证功能点的正确性，但如果随机验证也只关注功能点覆盖与否，那么验证的健壮性就很难保证。

发明内容

基于上述问题，本发明提出了一种基于覆盖次数统计评价随机验证质量的方法及系统，解决功能点覆盖率不能起到完全反映随机验证质量和指导随机参数改进作用的技术问题，在基于功能点覆盖驱动的验证流程中，对覆盖率的统计方式进行调整，除了是否覆盖，还需要统计覆盖次数，并根据统计信息判断功能点覆盖的均匀度，以此作为评价随机验证质量的标准。

本发明提供如下技术方案：

一方面，本发明提供了一种基于覆盖次数统计评价随机验证质量的方法，包括：

步骤101，设置待覆盖的功能点、需统计覆盖次数的功能点、随机验证参数、覆盖次数统计结果输出条件、统计结果分析报警条件；