[发明专利]一种高效通用自容电容屏Sensor功能检测系统及算法有效
申请号: | 201711397843.X | 申请日: | 2017-12-21 |
公开(公告)号: | CN108152625B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 俞世杰;孙元鸿 | 申请(专利权)人: | 帝晶光电(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 | 代理人: | 赵红霞 |
地址: | 518103 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高效 通用 电容 sensor 功能 检测 系统 算法 | ||
本发明提供了一种高效通用自容电容屏Sensor功能检测系统,包括RC外围电路模块、主芯片控制模块、桥接FPC电路模块、待测试自容Sensor屏体、UART通讯芯片模块和测试软件;测试软件采用自动扫描测试方式,减少作业人员每片需要点击软件“开始”的时间,从而提高测试效率;采用桥接FPC电路模块,能够基本兼容行业内所有的自电容设计方案,从而节约成本;此外,通过测试效率的提升,缩短了客户交期。
技术领域
本发明涉及电容屏功能测试技术领域,尤其涉及一种高效通用自容电容屏Sensor功能检测系统及算法。
背景技术
目前自容电容屏ITO结构主要采用三角形图案设计,其生产过程中的实测方法通常如下:
在研发过程中:一般使用主控芯片商提供的测试板对电容屏性能进行分析以及调试参数,需要电容屏控制芯片烧录能够向外输出每条Sensor(敏感元件)的Raw date(原始电容感应值)数据的固件;
在生产过程中:对电容屏的FPCA(柔性印刷电路板)来料功能检测、ITO薄膜来料功能检测;这个环节需要对电容屏的主控芯片烧录Raw date的固件,同时每款产品需要对应的配置固件进行测试,并且需要使用昂贵的测试板,测试效率低下,目前国内外方案商测试效率在400~450pcs/H;浪费人力、物力,又影响产品出货交期。
这样每个产品测试都需要等待制作样品,同时需要专用的配置文件,由于使用的测试板也不同,增加了人力、物力成本,大大降低了生产效率。
发明内容
本发明的目的在于针对上述现有技术的不足,提供了一种高效通用自容电容屏Sensor功能检测系统及算法,能够提高测试效率,以及降低测试成本。
为实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
本发明提供了一种高效通用自容电容屏Sensor功能检测系统,包括RC外围电路模块1、主芯片控制模块2、桥接FPC电路模块3、待测试自容Sensor屏体4、UART通讯芯片模块5和测试软件6;
所述主芯片控制模块2分别与所述RC外围电路模块1、所述桥接FPC电路模块3和所述UART通讯芯片模块5相连接;所述UART通讯芯片模块5通过mini数据线与计算机连接,所述桥接FPC电路模块3与所述待测试自容Sensor屏体4相连接;
所述UART通讯芯片模块5、所述主芯片控制模块2和所述RC外围电路模块1设置在PCB板上,所述测试软件6安装在所述计算机中。
进一步,所述RC外围电路模块1设定所述待测试自容Sensor屏体4的检测短路量程,所述主芯片控制模块2收集所述待测试自容Sensor屏体4每根通道的容值数据,并通过所述UART通讯芯片模块5传输给所述测试软件6进行测试。
进一步,所述待测试自容Sensor屏体4为PAD结构,两个PAD的中心距为0.5毫米~0.8毫米。
本发明还提供一种高效通用自容电容屏Sensor功能检测系统的算法,包括以下步骤:
S1、主芯片控制模块作为I2C从设备用于存放供I2C主设备进行读取的数据;
S2、按压自锁开关,上电后启动I2C通讯模块,并设置寄存器初始值;每个通道Address[0]的值默认设置为0x00,然后开始进入主循环;
S3、主循环中对所有ITO通道数据进行扫描,通过主芯片控制模块自带AD模数转换芯片转换,数据存放在寄存器地址Address[0]...Address[N],各个通道的Sensor的RawData Base数值;
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