[发明专利]一种飞秒宽带泵浦-激发/亏蚀-探测光谱仪有效

专利信息
申请号: 201711400367.2 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN108872073B 公开(公告)日: 2019-08-27
发明(设计)人: 郭前进;夏安东;匡卓然 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/64;G01N21/39
代理公司: 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 代理人: 刘元霞
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 光谱仪 泵浦光 探测光 激发 探测 时序 宽带泵浦 偏振方向一致 物理化学反应 动力学行为 激发态过程 光谱技术 光谱信号 时间分辨 探测技术 探测脉冲 样品分子 斩波调制 宽带 魔角 偏振 量子 研究 采集 调控
【权利要求书】:

1.一种飞秒宽带泵浦-激发/亏蚀-探测光谱仪,其特征在于:

所述光谱仪产生泵浦光、探测光以及激发/亏蚀光;

所述光谱仪能够对泵浦光、激发/亏蚀光进行双斩波调制,并能控制激发/亏蚀光、探测光到达样品的时序,实现样品的差分光谱探测;

其中,探测光为超连续探测脉冲,与泵浦光的偏振方向为54.7度;

并且泵浦光、激发/亏蚀光的偏振方向一致;

所述光谱仪包括宽波段可调谐飞秒激光光源;

所述宽波段可调谐飞秒激光光源用于产生激光光束,所述激光光束经第一分束片(2)分成第一光束、第二光束;

所述第一光束经第二分束片(4)分成第三光束和第四光束;

所述第二光束经第一非线性光参量放大装置(3)调谐、激光脉冲整形装置调制产生激发/亏蚀光;

所述第三光束经非线性透明介质(10)产生超连续探测光;

所述第四光束经第二非线性光参量放大装置(6)调谐产生泵浦光。

2.根据权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:

所述光谱仪在激发/亏蚀光的光路上设置第一电控位移时间延迟平台(14)、第一斩波器(23),通过所述第一电控位移时间延迟平台(14)控制所述激发/亏蚀光到达样品池的时间,通过所述第一斩波器(23)控制是否透过激发/亏蚀光;

所述光谱仪在泵浦光的光路上设置第二电控位移时间延迟平台(31)、第二斩波器(33),通过所述第二电控位移时间延迟平台(31)控制所述泵浦光到达样品池(36)的时间,通过所述第二斩波器(33)控制是否透过泵浦光;

所述光谱仪在探测光的光路上设置有第三电控位移时间延迟平台(19),通过所述第三电控位移时间延迟平台(19)控制所述探测光到达样品池(36)的时间。

3.根据权利要求2所述的光谱仪,其特征在于:

所述第一斩波器的转速为第二斩波器转速的2倍。

4.根据权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:

所述激光脉冲整形装置包括第二平面反射镜(15)、光调制系统(16)、第三平面反射镜(17);

所述光调制系统(16)由2个光栅,一对透镜和中间放置的空间光调制器组成;

激光脉冲由第二平面反射镜(15)反射并经过第一个光栅色散后,不同频率的光在角度上被分开,入射光在第一个凸透镜的后焦面上从时域转换到了频域,然后通过焦点中心放置的空间光调制器对激光脉冲的频率、相位及幅值进行调制,再经过第二个凸透镜及光栅后,激光脉冲重新转换到时域,从而获得整形好的脉冲,从第三平面反射镜(17)输出。

5.根据权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:

所述光谱仪还包括第三凸透镜(38)和第五光阑(37);

所述第五光阑(37)用于抑制样品的杂散光,所述第三凸透镜用于将要采集的光谱进行会聚。

6.根据权利要求5所述的光谱仪,其特征在于:

所述光谱仪还包括光谱信号采集装置,所述光谱信号采集装置包括光纤探头(39)、聚焦装置(40)、探测器(41);

所述光纤探头(39)、聚焦装置(40)、探测器(41)通过光纤连接;

光谱信号经光纤探头(39)采集后,通过聚焦装置(40)进行聚焦后,输出至探测器(41)。

7.根据权利要求6所述的光谱仪,其特征在于:

所述光谱仪分别在探测光的光路上设置第一半波片(21),在激发/亏蚀光的光路上设置第二半波片(24)、偏振片(25),在泵浦光的光路上设置第三半波片(34),从而获得偏振方向一致的泵浦光和激发/亏蚀光,以及偏振方向成54.7度的探测光和泵浦光。

8.根据权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:

所述光谱仪通过第一凸透镜(9)将第三束光聚焦到非线性透明介质(10),在经过非线性透明介质(10)倍频调节之后,通过第二凸透镜(11)进行准直,再通过第二滤波片(12)将剩余的基频光滤掉后得到探测光。

9.一种根据权利要求1-8任一项所述的光谱仪进行多时序同步控制的方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:

调整泵浦光和激发/亏蚀光的偏振方向一致,调整探测光和泵浦光的偏振方向成魔角;

控制泵浦光到达样品池,将基态粒子激发到高激发态;

控制激发/亏蚀光到达样品池的时间相对于泵浦光延迟,将高激发态布局带回基态的高振动态;

控制泵浦光、激发/亏蚀光达到样品池,诱导激发态的样品产生差分信号,将该差分信号记作PDP(λ,t);

式(1)中:Ion-on(λ,t)为测得的有泵浦光及激发/亏蚀光时在t时刻λ波长处的信号光强度;Ioff-off(λ,t)为测得的无泵浦光及激发/亏蚀光光时在t时刻λ波长处的信号光强度;

控制激发/亏蚀光达到样品池,诱导激发态的样品产生差分信号,将该差分信号记作DP(λ,t);

式(2)中,Ioff-on(λ,t)为测得的无泵浦光但有激发/亏蚀光时在t时刻λ波长处的信号光强度;Ioff-off(λ,t)为测得的无泵浦光及激发/亏蚀光时在t时刻λ波长处的信号光强度;

控制泵浦光达到样品,通过泵浦光诱导激发态的样品产生差分信号,将该差分信号记作PP(λ,t);

式(3)中,Ion-off(λ,t)为测得的有泵浦光但无激发/亏蚀光时在t时刻λ波长处的信号光强度;Ioff-off(λ,t)为测得的无泵浦光及激发/亏蚀光时在t时刻λ波长处的信号光强度;

将上述差分信号代入下式计算获得双差分信号,将该双差分信号记作ΔΔOD(λ,t):ΔΔOD(λ,t)=PDP(λ,t)-DP(λ,t)-PP(λ,t) (4)。

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