[发明专利]计算机断层扫描有效
申请号: | 201711404282.1 | 申请日: | 2017-12-22 |
公开(公告)号: | CN108240998B | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 米伦·加特什基;D·贝克尔斯 | 申请(专利权)人: | 马尔文帕纳科公司 |
主分类号: | G01N23/046 | 分类号: | G01N23/046;G01N23/207;G01N23/20016;G01N23/20008 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 陆建萍;杨明钊 |
地址: | 荷兰阿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 计算机 断层 扫描 | ||
1.一种执行计算机断层扫描测量的方法,包括:
在X射线源中生成X射线的束;
创建在第一方向上线性延伸的X射线的线焦点;
使来自所述线焦点的所述X射线的束穿过掩模中的机械狭缝,所述机械狭缝在基本上垂直于所述线焦点的狭缝方向上延伸;
在穿过所述机械狭缝之后使所述X射线的束穿过待测量的对象;以及
在二维检测器上对所述X射线的束成像。
2.根据权利要求1所述的方法,包括:
使所述对象顺序地旋转到多个位置;
针对所述多个位置中的每个位置,在所述二维检测器上捕获相应的二维图像;以及
根据所述相应的二维图像来计算所述对象的三维表示。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,计算所述对象的所述三维表示包括对所捕获的二维图像执行锥束计算机断层扫描算法,其中每个捕获的二维图像相对于垂直于所述第一方向的方向在平行于所述第一方向的方向上按缩放因子S来缩放。
4.根据权利要求3所述的方法,其中
S由以下得出:
S=(dmo/dso)(dsd/dmd);
dmo是所述掩模和所述对象之间的距离;
dso是所述X射线源和所述对象之间的距离;
dsd是所述X射线源和所述二维检测器之间的距离;以及
dmd是所述掩模和所述二维检测器之间的距离。
5.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,所述X射线源使用具有的原子序数在24至47的范围内的金属元素的靶,并且所述X射线源具有从600W至3000W的功率。
6.一种计算机断层扫描测量装置,包括:
X射线源,所述X射线源用于生成在第一方向上线性延伸的线焦点;
样品台,所述样品台用于保持待测量的对象;以及
二维检测器,所述二维检测器用于检测已经穿过所述样品台上的所述对象的来自所述X射线源的X射线,并生成二维图像;
其特征在于,
掩模界定在基本上垂直于所述线焦点的狭缝方向上延伸的机械狭缝,所述掩模被安装在所述线焦点和所述样品台之间,将来自所述线焦点的X射线引导通过所述机械狭缝,并随后向前通过所述样品台上的所述对象到所述二维检测器,以创建所述二维图像。
7.根据权利要求6所述的计算机断层扫描测量装置,
其中,所述样品台围绕旋转轴线是可旋转的,
所述计算机断层扫描测量装置还包括:计算机系统,所述计算机系统连接到所述样品台以用于控制所述对象的旋转,并且所述计算机系统连接到所述二维检测器以用于处理所述二维图像;
其中,所述计算机系统适用于:
旋转所述样品台以将所述对象顺序地旋转到多个位置;
针对所述多个位置中的每个位置,在所述二维检测器上捕获相应的二维图像;以及
根据所述相应的二维图像来计算所述对象的三维表示。
8.根据权利要求7所述的计算机断层扫描测量装置,其中,所述计算机系统适用于:
通过对所捕获的二维图像执行锥束计算机断层扫描算法来计算所述对象的所述三维表示,其中每个捕获的二维图像相对于垂直于所述第一方向的方向在平行于所述第一方向的方向上按缩放因子S来缩放。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于马尔文帕纳科公司,未经马尔文帕纳科公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711404282.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:检查设备和对集装箱进行检查的方法
- 下一篇:一种碎屑岩岩性的识别方法