[发明专利]结构件的劣化侦测方法

权利要求书

1.一种结构件的劣化侦测方法，其特征在于，包含：

以设置于一结构件的一感测器侦测该结构件的一时域振动波形；

以电连接该感测器的一处理器对该时域振动波形执行时频域转换以取得该结构件的一频域振动波形的多个模态的实际模态参数；

分别将该些模态的实际模态参数与一数据库中的一模态参数数据比对，以判断该结构件是否存在一劣化缺陷；以及

在判断该结构件存在该劣化缺陷时，更判断该劣化缺陷的程度与位置；

其中该模态参数数据包含该结构件分别在多个位置具有不同程度的劣化缺陷的多组对照模态参数。

2.如权利要求1所述的结构件的劣化侦测方法，其中每一该模态的实际模态参数包含一特性频率的振幅值，且每一组对照模态参数对应多个第一劣化曲线，判断该劣化缺陷的程度与位置包含将该些特性频率的振幅值分别与每一组对照模态参数的该些第一劣化曲线比对，据以判断该劣化缺陷的程度与位置；

其中，每一该第一劣化曲线对应于具有一劣化程度值且位于该结构件的一位置的一拟定劣化缺陷位。

3.如权利要求1所述的结构件的劣化侦测方法，其中每一该模态的实际模态参数包含一特性频率，每一组对照模态参数包含多个第二劣化曲线，判断该劣化缺陷的程度与位置包含：

依据该些模态的该些特性频率与该些组对照模态参数所包含的该些第二劣化曲线，分别取得至少二组劣化预估参数；以及

依据该至少二组劣化预估参数判断该劣化缺陷的程度与位置。

4.如权利要求3所述的结构件的劣化侦测方法，其中依据该至少二组劣化预估参数判断该劣化缺陷的程度与位置包含将该至少二组劣化预估参数进行比对，以过滤出至少一重复的劣化预估参数，该至少一重复的劣化预估参数关联于该劣化缺陷的程度与位置。

5.如权利要求1所述的结构件的劣化侦测方法，其中在以设置于该结构件的该感测器侦测该结构件的时域振动波形之前包含：

依据该数据库的每一组对照模态参数所对应一特性频率的大小，以决定该感测器于该结构件上所设置的位置。

6.如权利要求5所述的结构件的劣化侦测方法，其中该感测器的设置位置与该结构件的一端具有一距离，该距离小于或等于具有最大值的特性频率所对应的波长的1/2长度。

7.如权利要求1所述的结构件的劣化侦测方法，其中每一该模态的实际模态参数包含一特性频率，该特性频率具有于一第一方向上的频率及于一第二方向上的频率，该结构件的劣化侦测方法还包含依据该第一方向上的频率与该第二方向上的频率，以判断该劣化缺陷的形式。

8.如权利要求7所述的结构件的劣化侦测方法，其中依据该第一方向上的频率与该第二方向上的频率，以判断该劣化缺陷的形式的步骤包含：

判断该第一方向的频率与该第二方向的频率是否一致；

当该第一方向的频率与该第二方向的频率为一致时，则判断该劣化缺陷的形式为均匀缺陷；以及

当该第一方向的频率与该第二方向的频率不为一致时，则判断该劣化缺陷的形式为局部缺陷。

9.如权利要求7所述的结构件的劣化侦测方法，其中该数据库为一局部缺陷子数据库或一均匀缺陷子数据库，该结构件的劣化侦测方法还包含依据该劣化缺陷的形式，以决定该数据库为该局部缺陷子数据库或该均匀缺陷子数据库。

10.如权利要求1所述的结构件的劣化侦测方法，其中于以设置于该结构件的该感测器侦测该结构件的时域振动波形的步骤前，该结构件的劣化侦测方法还包含以一激振源或流经该结构件的流体使该结构件产生该时域振动波形。