[发明专利]获取NTC电阻温度的方法、装置、设备及可读存储介质在审
| 申请号： | 201711424358.7 | 申请日： | 2017-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN108225594A | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 王小乾;郭巍 | 申请（专利权）人： | 青岛海尔科技有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/16 | 分类号： | G01K7/16 |
| 代理公司： | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人： | 吴永亮 |
| 地址： | 266101 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电阻 可读存储介质 检测 负温度系数 产品成本 拟合曲线 温度曲线 查表法 公式法 采集 替代 | ||
1.一种获取NTC电阻温度的方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR；
根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT；
根据所述电阻值RT，利用电阻-温度曲线公式：计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T；其中，a、b、c为系数。
2.根据权利要求1所述的获取NTC电阻温度的方法，其特征在于，所述获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR，包括：
通过自带n位AD的单片机获取所述待检测的NTC电阻的模数AD值；
根据所述AD值，按照如下公式，计算出所述待检测的NTC电阻的电压值VR：
其中，Vcc为n位单片机的供电电压值；
VAD为所述NTC电阻的AD值。
3.根据权利要求2所述的获取NTC电阻温度的方法，其特征在于，通过自带10位AD的8位单片机获取所述待检测的NTC电阻的模数AD值。
4.根据权利要求2所述的获取NTC电阻温度的方法，其特征在于，所述根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT，包括：
按照如下公式，计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT：
其中，RC为采样电阻值。
5.根据权利要求1～4中任一项所述的获取NTC电阻温度方法，其特征在于，所述根据所述电阻值RT，利用电阻-温度曲线公式：计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T，包括：
根据预设的所述待检测的NTC电阻的实测电阻-实测温度对照表，利用最小二乘法，计算出电阻-温度曲线公式：中的系数a、b、c的值；
根据计算得到的系数a、b、c的值以及所述待检测的NTC电阻的电阻值RT，利用电阻-温度曲线公式：计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T。
6.一种获取NTC电阻温度的装置，其特征在于，包括：
电压获取模块，用于获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR；
电阻计算模块，用于根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT；
温度计算模块，用于根据所述电阻值RT，利用电阻-温度曲线公式：计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T；其中，a、b、c为系数。
7.根据权利要求6所述的获取NTC电阻温度的装置，其特征在于，所述温度计算模块，具体包括：
系数计算单元，用于根据预设的所述待检测的NTC电阻的实测电阻-实测温度对照表，利用最小二乘法，计算出电阻-温度曲线公式：中的系数a、b、c的值；
温度计算单元，用于根据计算得到的系数a、b、c的值以及所述待检测的NTC电阻的电阻值RT，利用电阻-温度曲线公式：计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T。
8.一种获取NTC电阻温度的设备，其特征在于，包括：处理器、存储器及通信总线；
所述通信总线与所述处理器和所述存储器之间通信连接；
所述处理器用于执行所述存储器中存储的获取NTC电阻温度的程序，以实现权利要求1至5中任一项所述的获取NTC电阻温度的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有权利要求1至5中任一项所述的获取NTC电阻温度的方法的程序。
10.一种计算机，其特征在于，所述计算机设有权利要求9所述计算机可读存储介质，以实现NTC电阻温度的获取。
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