[发明专利]一种半导体组件性能测试系统

权利要求书

1.一种半导体组件性能测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：直流电源、第一电流单元、第二电流单元、半导体组件单元、电压固定单元、吸能及保护单元；

所述直流电源，用于提供电能；

所述第一电流单元，所述第一电流单元的第一端与所述直流电源的正极端相连，所述第一电流单元的第二端与所述直流电源的负极端相连，用于模拟第一次分断时流过被测半导体组件的第一故障电流；

所述电压固定单元，所述电压固定单元的第一端与所述第一电流单元的第三端相连，所述电压固定单元的第二端与所述第一电流单元的第四端相连，用于模拟第一次分断时被测半导体组件两端的稳态电压；还用于模拟第二次分断时被测半导体组件两端的稳态电压；

所述第二电流单元，所述第二电流单元的第一端与所述第一电流单元的第三端相连，所述第二电流单元的第二端与所述第一电流单元的第四端相连，用于模拟第二次分断时流过被测半导体组件的第二故障电流；

所述半导体组件单元，所述半导体组件单元的第一端与所述第一电流单元的第三端相连，所述半导体组件单元的第二端与所述第一电流单元的第四端相连，用于放置被测半导体组件；

所述吸能及保护单元，所述吸能及保护单元的第一端与所述第一电流单元的第三端相连，所述吸能及保护单元的第二端与所述第一电流单元的第四端相连，用于吸收能量并保护被测半导体组件；

所述电压固定单元包括：第四开关、第二晶体管、第二电容、第五开关和第二电阻；

所述第四开关的第一端与所述第一电流单元的第三端相连，所述第四开关的第二端与所述第二电容的第一端相连，所述第二电容的第二端与所述第一电流单元的第四端相连，所述第二晶体管的发射极与所述第四开关的第一端相连，所述第二晶体管的集电极与所述第四开关的第二端相连；

所述第五开关的第一端与所述第二电容的第一端相连，所述第五开关的第二端与所述第二电阻的第一端相连，所述第二电阻的第二端与所述第二电容的第二端相连。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述直流电源包括：电压源和第一开关；

所述电压源的负极与所述第一电流单元的第二端相连，所述电压源的正极与所述第一开关的第一端相连，所述第一开关的第二端与所述第一电流单元的第一端相连。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述第一电流单元包括：第二开关、第一晶体管、第一电容、第一电感；

所述第二开关的第一端与所述直流电源的正极端相连，所述第二开关的第二端与所述第一电容的第一端相连，所述第一电容的第二端与所述直流电源的负极端相连，所述第一晶体管的发射极与所述第二开关的第一端相连，所述第一晶体管的集电极与所述第一电容的第一端相连，所述第一电感的第一端与所述第二开关的第一端相连，所述第一电感的第二端分别与所述电压固定单元的第一端、所述第二电流单元的第一端、所述半导体组件单元的第一端、所述吸能及保护单元的第一端相连。

4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，所述第一电流单元还包括：第三开关、第一电阻；

所述第三开关的第一端与所述第一电容的第一端相连，所述第三开关的第二端与所述第一电阻的第一端相连，所述第一电阻的第二端与所述第一电容的第二端相连。

5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述第二电流单元包括：第六开关、第一晶闸管、第三电容、第二电感；

所述第六开关的第一端与所述第一电流单元的第三端相连，所述第六开关的第二端与所述第三电容的第一端相连，所述第三电容的第二端与所述第二电感的第一端相连，所述第二电感的第二端与所述第一电流单元的第四端相连，所述第一晶闸管的第一端与所述第六开关的第一端相连，所述第一晶闸管的第二端与所述第六开关的第二端相连。

6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述第二电流单元还包括：第七开关、第三电阻；

所述第七开关的第一端与所述第三电容的第一端相连，所述第七开关的第二端与所述第三电阻的第一端相连，所述第三电阻的第二端与所述第三电容的第二端相连。

7.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述吸能及保护单元包括：电涌保护电路、第二晶闸管；

所述电涌保护电路的第一端与所述第一电流单元的第三端相连，所述电涌保护电路的第二端与所述第一电流单元的第四端相连，所述第二晶闸管的第一端与所述电涌保护电路的第一端相连，所述第二晶闸管的第二端与所述电涌保护电路的第二端相连。