[发明专利]一种用于温度和应变测量的长周期光纤光栅的制作方法

权利要求书

1.一种用于温度和应变测量的长周期光纤光栅的制作方法，其特征在于，所述方法包括：

搭建长周期光纤光栅制作平台，所述制作平台包括800nm飞秒激光器、高精度三维运动平台、聚焦物镜和高反镜；

在所述高精度三维运动平台上固定光纤夹具，将去除涂层的HI-1060光纤固定在所述光纤夹具上；

在所述光纤夹具正上方布置所述高反镜，在所述高反镜前端依次布置所述800nm飞秒激光器、半波片、偏振片、衰减片和用于激光穿过的窗口，所述800nm飞秒激光器以划线的方式发射飞秒激光，所述飞秒激光依次穿过所述半波片、偏振片、衰减片和窗口，经所述高反镜反射后由45倍的显微物镜聚焦至所述光纤夹具上的HI-1060光纤，对所述HI-1060光纤划线刻写，得到光栅周期为200um，逐点划线间距为20um，单周期内刻写长度为100um，占空比为0.5的长周期光纤光栅；

在所述高反镜正上方布置电荷耦合器件，所述电荷耦合器观测激光的聚焦位置和激光对所述夹具上HI-1060光纤的加工形貌。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述HI-1060光纤介于测试宽带光源与测试光谱分析仪之间，所述HI-1060光纤一端连接所述测试宽带光源，另一端连接所述测试光谱分析仪，所述测试光谱分析仪实时观测所述测试宽带光源发射的测试激光的透射光谱。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试宽带光源发射的测试激光的波长范围为1530nm～1610nm。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试光谱分析仪的工作波长范围为1200nm～2400nm，最小分辨精度为0.05nm。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述HI-1060光纤刻写过程中，控制所述高精度三维运动平台的移动和所述窗口的闭合/开启，制作所述长周期光纤光栅。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述HI-1060光纤的纤芯直径为6.2um，包层直径为125um。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述显微物镜的放大倍数为45倍，数值孔径为0.75。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述光纤夹具的上方和下方分别安装LED照明设备。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述800nm飞秒激光器发射的飞秒激光加工速度为10um/s，功率为50uw。