[发明专利]高频信号线质量检测系统

说明书

本发明提供一种高频信号线质量检测系统，高频信号线包括：导线及包覆于导线外部的绝缘层，高频信号线质量检测系统包括：导线外径测量装置、绝缘层外径测量装置、电容测量装置、检测显示装置；导线外径测量装置、绝缘层外径测量装置、电容测量装置分别与检测显示装置相连接，检测显示装置接收导线外径测量值、绝缘层外径测量值、电容测量值，检测显示装置根据接收的各测量值计算高频信号线的Delay值，检测显示装置对计算得到的Delay值与标准差进行比较，并将比较结果进行显示。本发明的高频信号线质量检测系统能够对生产的信号线缆进行实时检测，其有利于降低后工段的不良品，并降低成品中高频信号不良的信号线缆。

技术领域

本发明涉及照明技术领域，尤其涉及一种高频信号线质量检测系统。

背景技术

信号线缆是一种信号传输工具，其可用于各种传感器、仪器仪表的信号传输。信号线缆通常包括导线及包覆于所述导线外部的绝缘层。对于高频信号线缆而言，信号线缆在挤出过程中对整条线缆的高频性能无法检测，往往会出现不良线材流入下工序，或者成品才能发现高频信号不良的问题。因此，针对上述问题，有必要提出进一步的解决方案。

发明内容

本发明旨在提供一种高频信号线质量检测系统，以克服现有技术中存在的不足。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：

一种高频信号线质量检测系统，所述高频信号线包括：导线及包覆于所述导线外部的绝缘层，所述高频信号线质量检测系统包括：导线外径测量装置、绝缘层外径测量装置、电容测量装置、检测显示装置；

所述导线外径测量装置、绝缘层外径测量装置、电容测量装置分别与所述检测显示装置相连接，所述检测显示装置接收所述导线外径测量装置采集的导线外径测量值，所述检测显示装置接收所述绝缘层外径测量装置采集的绝缘层外径测量值，所述检测显示装置接收所述电容测量装置采集的电容测量值，所述检测显示装置根据接收的各测量值按照如下公式计算高频信号线的Delay值：

其中，ε为高频信号线的Delay值，C为电容测量值，D为绝缘层外径测量值，d为导线外径测量值，a为导线绞合外径系数，

所述检测显示装置对计算得到的Delay值与标准差进行比较，并将比较结果进行显示。

作为本发明的高频信号线质量检测系统的改进，所述导线外径测量装置为导线外径测量仪。

作为本发明的高频信号线质量检测系统的改进，所述绝缘层外径测量装置为绝缘外径测量仪。

作为本发明的高频信号线质量检测系统的改进，所述电容测量装置为水中电容测量仪。

作为本发明的高频信号线质量检测系统的改进，由所述绝缘层包覆的导线的条数与导线绞合外径系数的关系如下表所示：

作为本发明的高频信号线质量检测系统的改进，所述标准差0.02ns。

作为本发明的高频信号线质量检测系统的改进，所述检测显示装置将检测结果以曲线方式在显示屏上输出。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明的高频信号线质量检测系统能够对生产的信号线缆进行实时检测，其有利于降低后工段的不良品，并降低成品中高频信号不良的信号线缆。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的高频信号线质量检测系统的一具体实施方式的模块示意图。