[发明专利]一种天线频率的调试方法、天线匹配电路及终端

说明书

本发明实施例公开了一种天线频率的调试方法、天线匹配电路及终端，包括：确定天线匹配电路中待测试的支路使用组合，在任一支路使用组合中参与测试的支路上放置集总元器件，测试天线本体的谐振频率，根据各个支路使用组合对应的谐振频率，确定出天线本体的频率调整范围和最佳谐振频率。可见，由于信号馈电点和地馈电点可连接一个或多个支路，且每一支路上均设置有一个或多个集总元器件位置，因此当需要测试天线的谐振频率时，根据需求选择不同支路使用组合放置集总元器件即可实现谐振频率的调整，从而避免现有技术中每一次修改电路设计都要需要重新制作电路板再测试的冗长过程，有效提高天线电路测试的效率，缩短研发周期。

技术领域

本发明涉及无线通信领域，尤其涉及一种天线频率的调试方法、天线匹配电路及终端。

背景技术

随着技术的发展，各种类型的智能终端层出不穷，不仅功能也越来越强，更新换代的速度也越来越快。为了在激烈的市场竞争中胜出，各个智能终端厂商对产品性能的要求也越来越高，同时也迫切地需求缩短新产品的研发周期。

目前，在智能终端的天线设计和研发过程中，为了达到最优的天线电路设计方案，测试人员需要对终端中天线电路的谐振频率进行测试。现有技术中，与天线辐射单元连接的阻抗匹配电路往往采用单路直连的设计方案，即信号馈电点和地馈电点均通过一个支路与天线辐射单元相连。可以看出，采用现有技术中的电路设计方案，终端天线的谐振频率无法调整，若测试人员发现在采用当前的电路设计天线的谐振频率不符合测试标准，需要改动电路中的元器件时，往往需要对电路进行重新设计和制作后，才能进行再次测试，这不仅使得天线调试的周期变长，调试的难度很大。

因此，目前亟需一种天线频率的调试方法，用以提高天线电路测试的效率，缩短研发周期。

发明内容

本发明实施例提供一种天线频率的调试方法、天线匹配电路及终端，用于提高天线电路测试的效率，缩短研发周期。

本发明实施例中的提供的一种天线频率的调试方法，应用于天线匹配电路，所述天线匹配电路中包括天线本体、信号馈电点和N个地馈电点，所述N个地馈电点中的任一地馈电点通过并联的M个支路接地，所述M个支路中的任一支路上设置有一个或多个用于放置集总元器件的集总元器件位置；所述信号馈电点通过一个或者并联的P个支路与所述天线本体连接，所述一个支路或并联的P个支路上设置有一个或多个集总元器件位置；N大于等于1，M大于等于2，P大于等于1，所述方法包括：

确定出所述天线匹配电路中所有待测试的支路使用组合，其中，任一支路使用组合中包括每一地馈电点的M个支路中参与测试的部分或全部支路，以及所述信号馈电点连接的支路中参与测试的部分或全部支路；

对于任一支路使用组合，在所述任一支路使用组合中参与测试的支路上的集总元器件位置上放置集总元器件，并测试所述支路使用组合所对应的天线本体的谐振频率；

根据各个支路使用组合所对应的天线本体的谐振频率，确定出所述天线本体的谐振频率调整范围，以及所述天线本体的最佳谐振频率。

基于同样的发明构思，本发明实施例中的提供的一种天线匹配电路包括：天线本体、信号馈电点和N个地馈电点；所述信号馈电点与终端的射频模块端口连接，用于接收所述射频模块的输入信号，所述地馈电点用于接地，N大于等于1；

所述N个地馈电点中的任一地馈电点通过并联的M个支路接地，所述M个支路中的任一支路中设置有一个或多个用于放置集总元器件的集总元器件位置，M大于等于2；

所述信号馈电点通过一个支路或并联的P个支路与所述天线本体连接，所述一个支路或并联的P个支路上设置有一个或多个集总元器件位置，P大于等于1。

可选地，所述任一地馈电点所在的M个支路中设置的集总元器件位置的数量相同，而且处于对称位置的集总元器件位置用于放置相同的集总元器件。