[发明专利]一种基于Android设备的多通道超声探伤系统在审

专利信息
申请号: 201711444187.4 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN108267508A 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 李冰;胡孟君;张林;王雨;余晶晶;刘勇;董乾;沈克强;王刚;赵霞 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/44
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 朱小兵
地址: 214135 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 数据采集 外设 多通道 上传 超声探伤系统 服务器端 无损检测技术 系统结构设计 采集 超声探伤 存储能力 发送控制 交互方式 控制命令 历史数据 时间保存 数据处理 数据发送 显示界面 协议连接 用户实时 整体成本 大数据 机数据 下载 服务器 优化 存储 发送 分析
【权利要求书】:

1.一种基于Android设备的多通道超声探伤系统,其特征在于,包含:

数据采集外设,用于多通道超声探伤数据采集工作以及与Android设备进行通信;

Android设备,用于与数据采集外设进行通信,对数据采集外设采集到的数据进行存储、处理和显示,与用户实时交互,将本机数据上传至服务器,以及从服务器下载历史数据;

服务器,用于接受Android设备上传的数据,以及向Android设备提供历史数据的下载服务。

2.根据权利要求1所述的一种基于Android设备的多通道超声探伤系统,其特征在于,所述数据采集外设包含:

探头阵列,用于在合适电脉冲的激励下发射超声波探测信号和将反射回来的超声波信号转化为相应的电信号;

探测信号激发电路,用于产生合适的电脉冲激励探头发射超声波;

回波信号接受电路,用于处理由反射回来的超声波信号转化得到的电信号;

逻辑控制模块,用于实现对探测信号激发电路和回波信号接收电路的逻辑控制;

存储模块,用于暂存数据采集外设中离散化后得到的回波信号和逻辑控制模块的基本配置信息;

通信接口模块,用于实现数据采集外设与Android设备间通信连接的接口。

3.根据权利要求1所述的一种基于Android设备的多通道超声探伤系统,其特征在于,所述Android设备包括:

数据接收或发送模块,用于Android设备向数据采集外设发送控制命令、控制参数和接受数据采集外设上传的离散化回波信号数据;

数据采集外设参数设置模块,用于接受用户的参数设置,将用户所设置的数据采集外设上控制参数按照约定的数据格式打包并通过接受或发送数据模块发送至数据采集外设;

数据处理模块,用于将采集到的数据转化为对应的波形或图形并在显示界面中绘制出来,具体是波形还是图形取决于用户选择的显示方式,对采集到的数据中的特征进行提取;

人机交互模块,用于引导用户设置数据采集外设控制参数和显示界面配置参数,按照用户设置的参数在显示界面中以文字或者图形的形式中提供用户需要的信息。

数据存储模块,用于采用合适的数据结构存储数据采集外设上传至Android设备的数据,为Android设备中的其它模块提供数据读取的接口;

评估模块,用于依据采集到的数据中所提取的特征与标准被检测材料对应的数据特征比较结果,给出被测被检测材料的缺陷评估报告;

Android设备与服务器交互模块,用于将Android设备上所存储的数据更新至服务器作长久保存,从服务器上下载历史数据。

4.根据权利要求1所述的一种基于Android设备的多通道超声探伤系统,其特征在于:

数据采集外设与Android设备之间通过USB OTG协议连接,用于实现数据采集外设与Android设备之间高速、高带宽的数据传输。

5.根据权利要求2所述的一种基于Android设备的多通道超声探伤系统,其特征在于,所述通信接口模块采用并行IO接口转USB接口模块,用于实现数据采集外设与Android设备之间的USB OTG协议连接。

6.根据权利要求3所述的一种基于Android设备的多通道超声探伤系统,其特征在于,所述数据采集外设参数设置模块包括:

通道选择,用于选择探头阵列中的一个探头作为探伤探头;

扫描方式选择,用于选择A、B、C、D等扫描方式;

增益选择,用于选择对回波信号放大的倍数;

检波方式选择,用于选择对回波信号检波的方式,包括全波检波、正半波检波、负半波检波和射频检波;

滤波频率选择,用于选择对回波信号进行滤波的频带;

发射电压选择,用于选择用于超声波激发电脉冲信号的电压值和脉冲宽度;

发射频率选择,用于选择用于超声波激发电脉冲信号的频率。

7.根据权利要求3所述的一种基于Android设备的多通道超声探伤系统,其特征在于,所述数据处理模块包括:

数据中的波峰个数,用于判定被检测材料是否存在缺陷;

数据中的波峰对应的时基坐标,用于判定被检测材料缺陷位置信息;

数据中波峰的高度,用于判定被检测材料缺陷的形状;

数据中波峰的宽度,用于判定被检测材料缺陷的形状。

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