[发明专利]电流探针

说明书

本发明公开了一种电流探针包括探针组件及第二电连接端。探针组件包括针轴、第一电连接端、探针头及子探针。针轴用以可活动地穿设基板。第一电连接端设置且电性连接针轴。探针头设置于针轴相对第一电连接端的一端，并电性连接针轴，探针头用以抵压受测物。子探针穿设探针头并插设针轴，且子探针与线缆电性连接并与针轴电性绝缘，子探针位于针轴远离第一电连接端的一侧。第二电连接端对应第一电连接端。当探针头抵压受测物时，针轴可滑动地令第一电连接端位于抵靠位置，以令第一电连接端电性接触第二电连接端，且探针头通过针轴电性连接第二电连接端。

技术领域

本发明关于一种电流探针，特别是一种具有对应第一电连接端与第二电连接端的电流探针。

背景技术

目前业界有用于测量电阻值或电压值等电性特性的仪器，特别是利用大电流(例如从数十安培到数百安培)的测量仪器。在贩卖产品前，业者会利用测量仪器的多个探针组来进行多点的电性测试以确认产品的合格率和可靠度。一般而言，测量仪器的探针组固定于一板件上，且通常具有一驱动端及一感测端，驱动端与感测端分别与电线连接。当探针组接触一待测物时，大电流流经驱动端至待测物，再经由感测端回传经过此待测物的电压，以感测此待测物的电性特性。

由于，连接驱动端的电线为大电流输出之处，因此电线较为粗大，使得具有多个探针组的测量装置于配线上实为拥挤，造成大电流在流经电线时所产生的热不易消散，进而使得电线中的电阻值提高并阻碍大电流的流动。此外，探针组在抵靠待测物而滑移时，位于测量装置内的电线会随之移动，造成电线可能与测量装置内部的其他元件摩擦而破损，进而容易造成电线短路而使得测量装置失效。另外，在维修量仪器时，维修人员会将连接于探针组的电线拆下，当维修完毕时，维修人员容易将电线从原本应连接正极端子而误接成负极端子，使得测量仪器失效。

发明内容

本发明在于提供一种电流探针，藉以解决现有技术中测量装置内电线拥挤所造成的散热不易，且随着针头移动的电线容易破损，以及电线容易误接的问题。

本发明的一实施例所公开的一种电流探针适于装设于一基板并电性连接于一线缆，且用以测量一受测物的电性特性。电流探针包括一探针组件及一第二电连接端。探针组件包括一针轴、一第一电连接端、一探针头及一子探针。针轴用以可活动地穿设于基板，针轴具有一穿线口，穿线口用以供线缆穿设。第一电连接端设置且电性连接于针轴。探针头设置于针轴相对第一电连接端的一端，并电性连接于针轴，探针头用以抵压受测物。子探针穿设探针头并插设于针轴，且子探针与线缆电性连接并与针轴电性绝缘，子探针位于针轴远离第一电连接端的一侧。第二电连接端对应第一电连接端。其中，当探针头抵压受测物而令第一电连接端从一分离位置移动至一抵靠位置时，第一电连接端与第二电连接端自相分离变成相抵靠而令探针头通过针轴与第一电连接端电性连接第二电连接端。

根据上述实施例所公开的电流探针，因传输电流至探针头的电线是装设于固定不动的第二电连接端，而非装设于会随针轴一并移动的第一电连接端，故当探针头与受测物相抵而带动针轴相对滑动时，电线不会随着针轴滑动，进而可降低电线磨损的机率。

此外，因通过第一电连接端与第二电连接端取代部分电线，故探针组件附近的空间并无设置用来传输大电流的电线而可改善测量装置内电线拥挤所造成的散热不易的问题。

再者，因电线装设于第二电连接端，而非装设于第一电连接端，故维修人员在拆卸探针组件时，无需拆除电线与重新接线，进而可降低电线接错的机率。

以上关于本发明内容的说明及以下实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求书更进一步的解释。

附图说明

图1为本发明第一实施例所公开的电流探针装设于基板的立体示意图。

图2为图1的探针组件分解于基板的分解图。

图3为图1的部分剖视图。

图4为图1的第一电连接端位于抵靠位置的剖视图。