[发明专利]基于HVA配向系统的电压测量治具

说明书

本发明公开了一种基于HVA配向系统的电压测量治具，所述HVA配向系统包括电源及与电源相连的印加电冶具，所述印加电冶具上包括若干探针，所述电压测量治具包括：电压信号接收部，所述电压信号接收部上设有若干导电部，所述导电部与探针一一对应设置；电压信号显示部，包括若干电性连接于导电部之间的电压测量元件，以测量与对应的导电部相连的探针之间电压是否异常。本发明的电压测量治具通过电压信号接收部与印加电冶具上的探针电性连接，电压信号显示部中的电压测量元件能够测量探针之间电压是否异常，每次可测量一个基板上的多个HVA信号，大大降低了测量时间，提高了测量效率。

技术领域

本发明涉及液晶配向技术领域，特别是涉及一种基于HVA配向系统的电压测量治具。

背景技术

UVM(Ultraviolet Meter)即配向紫外线光学照射机，是在加电的条件下通过紫外光照射，使加入液晶的Monomer(单体)形成重合体，并在聚酰亚胺(polyimide，PI)配向膜表面形成液晶预倾角，从而完成液晶配向，该配向方法称之为HVA配向。

参图1、图2所示，在HVA配向中UVM加电方式是通过将印加电冶具3(Probe Bar)上的探针4与基板5上的焊垫6对位电接触，然后通过计算机1控制电源2对印加电治具3供电，从而对基板进行加电控制。

目前，HVA配向一般需要用到7种探针，分别为ACOM、CCOM、ODD、EVEN、R、G、B，每种探针数量均为1个，其中ACOM与CCOM和AC电源相连，电压范围10～25V，ODD与EVEN和DC电源相连，电压范围3～8V，R、G、B接地，电压为0V，具体参表1。

表1：HVA配向信号明细表

为了避免基板上的各面板的信号相互干扰，每个面板的HVA信号是分开的，这样一个大板的HVA信号线数量较多，以G8.5 32英寸来计算，共18组面板，就有18组HVA信号，每组HVA信号有7种，为了避免Block过多一般情况将2组或者3组合并到一个Block上，即一个Block对应14个探针或者21个探针。由于印加电冶具长期暴露在UV光下，容易在接头处及Block内部探针焊接的位置出现线路老化导致连接不良的问题，这样会导致HVA配向电压无法有效供应到基板内，UV照射后将会出现配向异常的问题。然而造成这种线路老化接触不良的问题常常发生在更换印加电冶具时，由于人员搬运及调整，老化的线路容易断开。

参图3所示，目前有效的对策是在换线时用万用表7测量各探针4之间的电压，以确保及时发现线路是否断开的问题，还可以检查电源的电压是否设置正确。采用万用表测量电压每组至少需要量测4次(2次AC，2次DC)，以G8.532英寸来计算，至少要测量56次，且万用表AC档和DC档需要频繁切换，造成整个电压测量过程相当繁琐。

因此，针对上述技术问题，有必要提供一种基于HVA配向系统的电压测量治具。

发明内容

为克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种基于HVA配向系统的电压测量治具，以简化印加电冶具上探针的测量工艺，提高测量效率，降低测量时间。

为了实现上述目的，本发明一实施例提供的技术方案如下：

一种基于HVA配向系统的电压测量治具，所述HVA配向系统包括电源及与电源相连的印加电冶具，所述印加电冶具上包括若干探针，所述电压测量治具包括：

电压信号接收部，所述电压信号接收部上设有若干导电部，所述导电部与探针一一对应设置；