[发明专利]一种表面包覆硅铝介孔层的Y型分子筛及其制备方法

权利要求书

1.一种表面包覆硅铝介孔层的Y型分子筛，其特征在于介孔结构在Y型分子筛晶粒表面生长并将分子筛晶粒包覆其中，粒度分布均匀，扫描电镜中可见粒度大小介于1～2μm，其XRD谱图中在28°、38.5°、49°和65°处有衍射峰存在；a/b＝1.2～9.5，其中a代表拉曼(Raman)光谱中位移为500cm^-1的谱峰强度，b代表拉曼位移为350cm^-1的谱峰强度。

2.按照权利要求1的表面包覆硅铝介孔层的Y型分子筛，其特征在于其总比表面积为300～650m²/g，总孔体积为0.4～1.0cm³/g。

3.按照权利要求1的表面包覆硅铝介孔层的Y型分子筛，其特征在于，所说的硅铝介孔层的化学组成以原子质量计为：铝7～20％、硅5～12％。

4.按照权利要求1的表面包覆硅铝介孔层的Y型分子筛，其特征在于，所述的分子筛其低温氮气吸脱附等温线呈现IV类典型形式。

5.按照权利要求1的表面包覆硅铝介孔层的Y型分子筛，其中，所述的硅铝介孔层是在Y型分子筛晶粒的表面通过附晶生长方式衍生出。

6.权利要求1-5之一的表面包覆硅铝介孔层的Y型分子筛的制备方法，包括下述制备步骤：(1)配置可合成NaY分子筛的原料，混合均匀后于95～105℃温度下进行静态晶化8～50小时；(2)将上述静态晶化后的浆液经过滤、洗涤，得到NaY分子筛滤饼；(3)将上述NaY分子筛滤饼重新加水打浆，分散均匀后在30℃至70℃、剧烈搅拌条件下将铝源和碱溶液加入其中进行反应，控制反应过程中浆液体系的pH值介于9～11；(4)以加入的铝源及碱溶液中所含氧化铝的重量计，按照SiO₂:Al₂O₃＝1:(1～6)的重量比，将硅源加入，再于30℃至90℃温度下继续陈化1～8小时，并将陈化后产物进行回收。

7.按照权利要求6的制备方法，其中，步骤(1)中所说的可合成NaY分子筛的原料为导向剂、水玻璃、偏铝酸钠、硫酸铝和去离子水。

8.按照权利要求6的制备方法，其中，步骤(3)中所说的铝源选自硝酸铝、硫酸铝和氯化铝中的一种或多种。

9.按照权利要求6的制备方法，其中，步骤(3)中所说的碱溶液选自氨水、氢氧化钾、氢氧化钠中的一种或多种，或者，所说的碱用偏铝酸钠替代。

10.按照权利要求6的制备方法，其中，步骤(3)中当碱以偏铝酸钠替代时，其氧化铝含量计入步骤(4)中所述的氧化铝的含量中。

11.按照权利要求6的制备方法，其中，步骤(4)中的硅源选自水玻璃、硅酸钠、四乙氧基硅烷、四甲氧基硅烷和氧化硅中的一种或多种。