[发明专利]一种检测岩石中金属分布率的方法有效

专利信息
申请号: 201711454345.4 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN109975384B 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 于宏东;齐涛;王丽娜;曲景奎;宋静 申请(专利权)人: 中国科学院过程工程研究所
主分类号: G01N27/626 分类号: G01N27/626;G01N1/28
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 陈琳琳;李彪
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 岩石 金属 分布 方法
【权利要求书】:

1.一种检测岩石中金属分布率的方法,所述方法包括以下步骤:

⑴测试样品准备:将岩石样品制备光片、探针片或砂光片,然后镀膜;

⑵矿物含量测量:利用矿物学自动分析仪器测量岩石中矿物的质量百分含量;

⑶测量矿物中金属元素M的含量:利用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪对矿物种类进行识别并测量各矿物中金属元素M的质量含量;

⑷计算岩石中金属M的品位:根据式1计算岩石中金属元素M的品位β,

式1β=(∑(γi×βi×10-6))×100%,

式中γi代表岩石中第i种矿物的质量百分含量,βi代表第i种矿物中金属元素M的质量含量;

⑸计算岩石中金属元素M的金属分布率:按式2计算金属元素M在岩石中的金属分布率B,

式2B=(γi×βi×10-6÷岩石中金属元素M的品位)×100%,

所述的金属元素M为Rb、Cs、Fe、Ti、V、Mn、Cu、Pb、Zn、Ga、Ge、As、Se或Nb。

2.根据权利要求1所述的检测岩石中金属分布率的方法,其特征在于,测试样品准备步骤包括将岩石制成光片和探针片,以及将破碎后的样品制成综合样光片和砂光片,破碎后的样品在制样之前进行被混匀和缩分。

3.根据权利书要求1所述的一种检测岩石中金属分布率的方法,其特征在于,矿物含量测试步骤包括矿物学自动测量时矿物自动识别时匹配度的控制步骤,且矿物识别时匹配度大于80%。

4.根据权利书要求1所述的检测岩石中金属分布率的方法,其特征在于,在对矿物进行激光剥蚀电感耦合等离子体质谱分析前,测试样品经抛光处理。

5.根据权利书要求1所述的检测岩石中金属分布率的方法,其特征在于,对矿物进行激光剥蚀电感耦合等离子体质谱分析时,用标准物质直接作外标进行校正,剥蚀孔径小于100微米,剥蚀时间为20-100秒。

6.根据权利书要求1所述的检测岩石中金属分布率的方法,其特征在于,所述方法对矿物进行激光剥蚀电感耦合等离子体质谱分析时,每种矿物选取不同点位多次测量后,取其成分的算数平均值计为该矿物中金属元素M的平均含量。

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