[发明专利]像素级剪敏液晶标定与测量方法和系统

说明书

本发明公开了一种像素级剪敏液晶标定与测量方法，包括：制作与待测件的形状和尺寸均相同的标定件，对标定件进行处理；标定件在预设范围内逐级加快的状态下，在预设标定速度范围内通过拟合运算获取Hue‑τ曲线，将Hue‑τ曲线定义为量级标定曲线；计算出每一个像素点在多个角度的色相Hue值，并针对每一个像素点对色相Hue值‑角度φ进行高斯曲线的拟合运算；将获取色相Hue值的最大值代入至量级标定曲线中，获取的τ值即为每一个像素点的剪切应力值；根据获取的每一个像素点的剪切应力值完成对标定件的全平面内所有像素点的标定与测量操作。该方法可以有效消除误差，提高测量精度。本发明还公开了一种像素级剪敏液晶标定与测量系统。

技术领域

本发明涉及测量技术领域，特别涉及一种像素级剪敏液晶标定与测量方法和系统。

背景技术

传统技术中，在旋转机械的湍流边界层的研究中，壁面剪切应力一直是非常重要的参数。常规的方法如：粒子图像测速法(PIV)观测示踪粒子跟随流场的运动轨迹，得到壁面附近的速度分布，进而得到速度梯度算出剪切应力；油膜干涉法基于不同剪切力作用下油膜厚度有所不同，实际测量中要对油膜进行特殊处理以保证其表面反射特性，其它参数比如重力，压力梯度等也会影响测量精度；基于MEMS传感器技术一般只能够测量单点壁面剪切应力，且造价高，无法实现多点测量，有局限性。

发明内容

基于此，有必要针对传统技术存在的问题，提供一种具有便捷性的多点测量的像素级剪敏液晶标定与测量方法和系统。该系统利用了某些液晶在一定温度范围内只对剪切应力敏感这一特性，可以实现介质与壁面间的剪切应力场“面测量”，有效的消除误差，提高测量精度，同时具有对流体扰动很小的有益效果。

第一方面，本发明实施例提供了一种像素级剪敏液晶标定与测量方法，其特征在于，所述方法包括：制作与待测件的形状和尺寸均相同的标定件，并对所述标定件的标定平面进行处理操作；所述标定件受到的气流速度在预设范围内逐级加快的状态下，在预设标定速度范围内通过拟合运算获取一条Hue-τ曲线，并将所述Hue-τ曲线定义为所述量级标定曲线；根据拍摄获取的多个图片计算出每一个像素点在多个角度的色相Hue值，并针对所述每一个像素点对所述色相Hue值-角度φ进行高斯曲线的拟合运算；将获取的所述色相Hue值-角度的所述高斯曲线中所述色相Hue值的最大值代入至所述量级标定曲线中，获取的τ值即为所述每一个像素点的剪切应力值；根据获取的所述每一个像素点的所述剪切应力值完成对所述标定件的全平面内所有像素点的标定与测量操作。

第二方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面的像素级剪敏液晶标定与测量方法。

第三方面，本发明实施例提供了一种包含指令的计算机程序产品，当该计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行上述第一方面所述的方法。