[发明专利]零件局部试棒取样方法在审

专利信息
申请号: 201711460695.1 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108267332A 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 蔡振铭;王敏;许存官 申请(专利权)人: 上海电气电站设备有限公司
主分类号: G01N1/04 分类号: G01N1/04;B23P15/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 雷绍宁
地址: 201108 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 取样 钻孔 试棒 取样凹槽 深度位置 芯棒 切割 电火花 电火花切割 工作准确性 中心定位套 工具电极 工作效率 扩孔加工 目标位置 套料加工 套料钻头 芯棒外壁 钻孔内壁 有效地 钻头 试件 主机 加工
【权利要求书】:

1.一种零件局部试棒取样方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一,定位加工;

在套料钻主机上安装中心定位套料钻头,所述中心定位套料钻头为带有一根中心杆的套料钻头,所述中心杆用于定位取样位置的中心,中心定位套料钻头对准取样位置加工到初步深度位置;

步骤二:套料加工;

在套料钻主机上更换套料钻头,套料加工至目标深度位置,形成钻孔和钻孔内的芯棒;

步骤三:扩孔加工;

在套料钻主机上更换一次或多次套料扩孔钻头,对钻孔进行一次或多次扩孔加工,在芯棒外壁和钻孔内壁之间形成取样凹槽,取样凹槽的尺寸满足电火花切割工具电极插入切割取样的要求;

步骤四:电火花切割加工;

将安装在电火花主机上的电火花切割工具电极插入到取样凹槽内的切割取样的目标位置,对芯棒进行切割,得到取样试棒。

2.根据权利要求1所述的零件局部试棒取样方法,其特征在于,取样位置位于零件的盲孔位置内。

3.根据权利要求1所述的零件局部试棒取样方法,其特征在于,所述工具电极两端各设置有凸头,所述电火花主机上安装有工具电极支架,所述工具电极支架包括二根平行的条形杆,在每根杆的端头设置有凹形槽,与所述工具电极两端的凸头匹配,所述凸头卡装在所述凹形槽内。

4.根据权利要求3所述的零件局部试棒取样方法,其特征在于,所述工具电极支架设置有绝缘层。

5.根据权利要求3所述的零件局部试棒取样方法,其特征在于,所述工具电极支架采用工具钢制造。

6.根据权利要求1或3所述的零件局部试棒取样方法,其特征在于,所述工具电极采用铜制或银制。

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