[发明专利]一种具有防呆调试接口的PCB板

说明书

本申请实施例公开了一种具有防呆调试接口的PCB板，PCB板体与JTAG串口板通信连接，其中：JTAG串口板设置有JTAG调试接口，PCB板体上设置有一防呆电路，防呆电路包括P‑MOS管，P‑MOS管的栅极与JTAG调试接口中的防呆管脚相连接，防呆管脚设置为低电平；P‑MOS管的源极与电源管脚电连接，P‑MOS管的漏极与JTAG调试接口电连接。由于防呆管脚开始是设置为低电平，进行调试时，当JTAG调试器与调试排针插入正确时，栅极接地，P‑MOS管导通，电源管脚为JTAG调试接口上电。如果排针插入错误，P‑MOS管不导通，从而防止了芯片电源对地短路、信号管脚对地短路并引起芯片损坏。

技术领域

本申请涉及电路板技术领域，尤其涉及一种具有防呆调试接口的PCB板。

背景技术

JTAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试。JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP(Test Access Port；测试访问口)通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。

现有技术中各种芯片是设置在PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)板上的，然后引出JTAG调试器接口。如果存在芯片出现故障，对芯片进行JTAG调试时，将调试器接口连接器接入PCB板进行调试，从而实现对故障芯片的调试。但是将调试器接口连接器接入PCB板时，可能会存在反插、移位和脱落的情况，容易产生CPU或者其他芯片电源对地短路、信号管脚对地短路并损坏的风险。

现有中为了克服上述问题，提出了以下几种解决方法：在PCB板上设置过孔，每个过孔对应一个管脚；在PCB板上印制丝印，提示调试管脚的对应关系；或者PCB板上放置金手指，采用特殊夹具将JTAG调试器接口引出。但是上述方法只能在一定程度上可以解决反插、移位和脱落中部分问题，仍然不能有效避免调试过程中由于芯片电源对地短路、信号管脚对地短路并引起芯片损坏的问题。

发明内容

本申请提供了一种具有防呆调试接口的PCB板，以解决传统的PCB板在接入JTAG调试器时出现芯片电源对地短路、信号管脚对地短路并引起芯片损坏的问题。

为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：

一种具有防呆调试接口的PCB板，包括：PCB板体和JTAG串口板，所述PCB板体与所述JTAG串口板通信连接，其中：所述JTAG串口板设置有JTAG调试接口，所述PCB板体上设置有一防呆电路，所述防呆电路包括P-MOS管，所述PMOS管的栅极所述JTAG调试接口中的防呆管脚相连接，所述防呆管脚设置为低电平；所述P-MOS管的源极与电源管脚电连接，所述P-MOS管的漏极与所述JTAG调试接口电连接。

可选地，所述PCB板体上设置有芯片调试接口，所述芯片调试接口分别与所述JTAG串口板和所述防呆电路相连接。

可选地，所述芯片调试接口与所述JTAG串口板之间设置有夹具式连接器，所述夹具式连接器分别连接所述芯片调试接口和所述JTAG串口板。

可选地，所述芯片调试接口设置有10个管脚，管脚之间的间距为1.27mm。

可选地，所述防呆电路和所述芯片调试接口与所述PCB板体的连接方式包括焊接连接。

可选地，所述P-MOS管的漏极还分别连接第一电容和第二电容的一端，所述第一电容和第二电容的另一端接地。

可选地，所述P-MOS管的源极还分别连接第三电容和功能电阻的一端，所述第三电容的另一端接地，所述功能电阻的另一端与所述P-MOS管的栅极相连接。