[发明专利]基于PAD的扩充信号通道的系统

说明书

本发明提供一种基于PAD的扩充信号通道的系统，包括置于阵列测试机台上的主板和设置于所述主板周侧并用于控制所述主板的阵列测试垫，所述阵列测试垫设有多个引脚，每一所述引脚对应一信号通道，所述阵列测试垫包括至少两个左驱动阵列测试垫和至少两个右驱动阵列测试垫。与相关技术相比较，本发明提供的基于PAD的扩充信号通道的系统，其通过在主板周侧至少两个左驱动阵列测试垫和至少两个右驱动阵列测试垫，使得主板周侧的引脚数量可成倍增加，引脚尺寸保持不变，同时扎针治具不需要变长。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种基于PAD的扩充信号通道的系统。

背景技术

为了满足4K/8K等高分辨率的产品对信号通道增加的需求，将原来Array Tester(阵列测试装置)的信号通道扩充一倍。

但是，传统的扩充信号通道的方法是在单组ATS PAD上增加PAD数量，这种方法具有如下缺陷：1、可增加PAD数量较少；2.在一组ATS PAD里面增加，会造成PAD size变小，导致扎针会扎偏；3.同一组增加PAD过多的话，会导致扎针治具变长，同样会导致扎针失败频率上升。

因此，有必要提供一种新的基于PAD的扩充信号通道的系统解决上述问题。

发明内容

本发明解决的技术问题是提供一种基于PAD的扩充信号通道的系统，其通过额外增加一组PAD，使得PAD数量可成倍增加，PAD尺寸保持不变，同时扎针治具不需要变长。

为解决上述技术问题，本发明提供一种基于PAD的扩充信号通道的系统，包括置于阵列测试机台上的主板和设置于所述主板周侧并用于控制所述主板的阵列测试垫，所述阵列测试垫设有多个引脚，每一所述引脚对应一信号通道，所述阵列测试垫包括至少两个左驱动阵列测试垫和至少两个右驱动阵列测试垫。

优选的，所述阵列测试垫设有23个所述引脚。

优选的，所述引脚的长度为3.7mm，宽度≥2.5mm，相邻所述引脚之间的间距为1mm，所述阵列测试垫的总长为107.1mm。

优选的，所述左驱动阵列测试垫和所述右驱动阵列测试垫的数量相同，且均为偶数个。

优选的，所述左驱动阵列测试垫和所述右驱动阵列测试垫的数量均为两个。

优选的，两所述左驱动阵列测试垫设置于所述主板的一侧,两所述右驱动阵列测试垫设置于所述主板的另一侧。

优选的，所述左驱动阵列测试垫和所述右驱动阵列测试垫分设于所述主板的相对两侧。

与相关技术相比较，本发明提供的基于PAD的扩充信号通道的系统，其通过在主板周侧至少两个左驱动阵列测试垫和至少两个右驱动阵列测试垫，使得主板周侧的引脚数量可成倍增加，引脚尺寸保持不变，同时扎针治具不需要变长。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：

图1为本发明实施例提供的一种基于PAD的扩充信号通道的系统的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种基于PAD的扩充信号通道的系统中阵列测试垫的结构示意图。

具体实施方式

下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。