[发明专利]一种闪存测试设备和方法

说明书

本发明提供了一种闪存测试设备和方法。所述闪存测试设备分别与终端和闪存连接，所述闪存测试设备包括数据发生器、缓存器和数据比对器；所述数据发生器，用于根据所述终端发送的控制指令产生第一数据；所述缓存器，用于根据所述控制指令读取所述闪存中的第二数据，以及存储所述第一数据和所述第二数据；所述数据比对器，用于比对所述第一数据和所述第二数据，并将比对结果反馈至所述终端。本发明实施例提高了传输效率，缩短了闪存的测试时间。

技术领域

本发明涉及存储设备技术领域，尤其涉及一种闪存测试设备和方法。

背景技术

因为具有大容量、数据不丢失等特性，闪存已成为智能手机和电脑中固态硬盘首选的存储元件。在闪存的设计验证阶段，需要对闪存做擦写读测试，同时结合电参数或设置参数的改变，还需要循环多次实验，整个功能验证甚至要花费数天时间。在测试时，耗费时间的过程主要包括：终端产生整个page或者整个chip的数据，将整个page或者整个chip的数据以及配置ATE(Automatic Test Equipment，半导体芯片自动测试设备)的参数传输到ATE设备，ATE设备从闪存读取数据传输回终端，整个测试过程传输的数据量很大，容易出现传输延迟等情况，因而比较耗费时间。

发明内容

本发明实施例提供一种闪存测试设备和方法，以解决现有技术中测试过程中传输数据量大、耗费时间的问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种闪存测试设备，所述闪存测试设备分别与终端和闪存连接，所述闪存测试设备包括数据发生器、缓存器和数据比对器；

所述数据发生器，用于根据所述终端发送的控制指令产生第一数据；

所述缓存器，用于根据所述控制指令读取所述闪存中的第二数据，以及存储所述第一数据和所述第二数据；

所述数据比对器，用于比对所述第一数据和所述第二数据，并将比对结果反馈至所述终端。

可选地，所述缓存器，还用于根据所述控制指令将所述第一数据写入所述闪存中。

可选地，所述控制指令包括配置所述数据发生器的配置指令、读写所述闪存的读写指令中的至少一种。

可选地，所述第一数据的大小小于所述闪存的单页容量、单块容量、单片容量中的至少一种。

可选地，所述闪存为NAND。

为了解决上述技术问题，本发明实施例还提供了一种闪存测试方法，其特征在于，应用于上述的闪存测试设备，所述方法包括：

接收终端发送的控制指令；

根据所述控制指令产生第一数据，并存储所述第一数据；

根据所述控制指令读取闪存中的第二数据，并存储所述第二数据；

比对所述第一数据和所述第二数据，并将比对结果反馈至所述终端。

可选地，所述方法还包括：

根据所述控制指令将所述第一数据写入所述闪存中。

可选地，所述控制指令包括配置指令、读写指令中的至少一种。

可选地，所述第一数据的大小小于所述闪存的单页容量、单块容量、单片容量中的至少一种。

可选地，所述闪存为NAND。