[发明专利]制备大面积单一取向六方氮化硼二维原子晶体的方法有效
申请号: | 201711467108.1 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN108193276B | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 孟军华;张兴旺;尹志岗;吴金良 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | C30B29/40 | 分类号: | C30B29/40;C30B29/64;C30B23/02;C23C14/02;C23C14/06;C23C14/34 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤宝平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制备 大面积 单一 取向 氮化 二维 原子 晶体 方法 | ||
1.一种制备大面积单一取向六方氮化硼二维原子晶体的方法,其包括如下步骤:
步骤1、通过磁控溅射法在氧化镁MgO(111)单晶衬底上外延一预定厚度的过渡金属单晶薄膜,形成样品,其中MgO(111)单晶衬底在100μm2范围内的表面粗糙度小于1.0nm,过渡金属单晶薄膜的厚度为0.5-2μm,过渡金属单晶薄膜为无孪晶的Ni(111)单晶薄膜或Cu(111)单晶薄膜;
步骤2、将样品置于离子束溅射沉积系统的腔室内,抽真空,然后在氢气气氛中升温并原位退火;
步骤3、关闭氢气,使离子束溅射沉积系统内的腔室恢复至真空环境,然后向腔室内通入氩气;
步骤4、利用离子源轰击置于离子束溅射沉积系统腔室内的高纯氮化硼靶材,使得溅射的硼、氮原子在样品表面沉积,生长形成六方氮化硼二维原子晶体;
步骤5、降温,最终得到单一取向的六方氮化硼单晶畴。
2.根据权利要求1所述的制备大面积单一取向六方氮化硼二维原子晶体的方法,其中原位退火的温度为950-1150℃,氢气流量为50sccm,退火时间为30-60min。
3.根据权利要求1所述的制备大面积单一取向六方氮化硼二维原子晶体的方法,其中氩气流量为2-10 sccm。
4.根据权利要求1所述的制备大面积单一取向六方氮化硼二维原子晶体的方法,其中轰击靶材的离子束流密度为0.1-0.4mA/cm2,生长温度为950-1150℃,生长时间为5-15min。
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