[发明专利]一种星载大孔径静态干涉光谱成像仪干涉图采样方法有效

专利信息
申请号: 201711467125.5 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN107957296B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 刘强;赵强;孙剑;张昕;郝雄波;张志军 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/28;G01J3/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 星载大 孔径 静态 干涉 光谱 成像 采样 方法
【权利要求书】:

1.一种星载大孔径静态干涉光谱成像仪干涉图采样方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)将目标信号在平行光路中用分束器分成两束完全相干的光线,然后对两束光线通过成像镜进行干涉成像,产生目标干涉信号;所述分束器为横向剪切分束器,分束器的横向剪切量d满足单边采样点数为2t,其中:t为光谱分辨率要求的目标干涉图像单边采样点数;将分束器的剪切量参数设置为正常逐行采样的一半;

2)使用光电探测器采集步骤1所产生的目标干涉信号,经模数转换获得目标干涉图像;

将光电探测器的帧频设置为正常逐行采样帧频;

3)将光电探测器输出第2a帧图像中第2b-1行数据与第2a-1帧中第2b行数据相加,其中a、b均为大于等于1的自然数;

4)将光电探测器输出第2a帧图像中第2b行数据与第2a+1帧中第2b-1行数据相加。

2.根据权利要求1所述的星载大孔径静态干涉光谱成像仪干涉图采样方法,其特征在于:所述分束器包括SAGNAC分束器、双角反射体分束器、基于Savart偏光镜的双折射型分束器或者基于Wollaston棱镜的双折射角分束器。

3.根据权利要求1所述的星载大孔径静态干涉光谱成像仪干涉图采样方法,其特征在于:所述目标干涉信号是以零光程差位置为中心分别对应不同视场角目标的不同光程差干涉信号。

4.根据权利要求1所述的星载大孔径静态干涉光谱成像仪干涉图采样方法,其特征在于:所述光电探测器面阵规格为m×n,其中:m为光电探测器穿轨方向像元列数,n为光电探测器沿轨方向像元行数;沿轨方向像元数n不小于2t,其中:t为光谱分辨率指标要求的目标干涉图像单边采样点数。

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