[发明专利]一种微弱电荷校准方法

权利要求书

1.一种微弱电荷校准方法，其特征在于，所述校准方法包括：

步骤A、将数字源表、标准电容器、电阻器和静电计依次电性连接，并将所述标准电容器和所述电阻器放置于干燥箱中；

步骤B、由所述数字源表输出输出电压信号，所述输出电压信号的电压值为V；

步骤C、所述输出电压信号通过所述标准电容器和所述电阻器进行隔直流处理；

步骤D、所述静电计采集所述隔直流处理后的电信号中的电荷，得到采集电荷量Q1；

步骤E、根据所述标准电容器的电容值C和所述输出电压信号的电压值V计算得到实际电荷量Q；

步骤F、改变所述数字源表的输出电压，重复上述步骤B至步骤E，得到对应不同输出电压的多组采集电荷量和实际电荷量；

步骤G、根据所述多组采集电荷量和实际电荷量计算得到校准因子。

2.根据权利要求1所述的微弱电荷校准方法，其特征在于，所述根据所述标准电容器的电容值C和所述输出电压信号的电压值V计算得到实际电荷量Q具体为：Q＝C×V。

3.根据权利要求1所述的微弱电荷校准方法，其特征在于，在所述将数字源表、标准电容器、电阻器和静电计依次电性连接之前，所述校准方法还包括：

对所述数字源表的电压档进行校准。

4.根据权利要求1所述的微弱电荷校准方法，其特征在于，在所述步骤B之前，所述校准方法还包括：

所述数字源表进行干燥处理。

5.根据权利要求1所述的微弱电荷校准方法，其特征在于，在所述步骤B之前，所述校准方法还包括：

将所述数字源表的输出电压设定为0V；

获取所述静电计的读数，得到数字源表的误差电荷值Q2。

6.根据权利要求5所述的微弱电荷校准方法，其特征在于，所述步骤D具体包括：

所述静电计采集所述滤波处理后的电信号中的电荷，测得输出电荷量Q3；

根据所述误差电荷值Q2和所述输出电荷量Q3计算得到所述采集电荷量Q1；所述采集电荷量Q1为：Q1＝Q3-Q2。

7.根据权利要求1所述的微弱电荷校准方法，其特征在于，所述步骤G具体包括：

将所述多组采集电荷量和实际电荷量用最小二乘法进行处理，得到所述采集电荷量和所述实际电荷量的线性关系；

根据所述采集电荷量和所述实际电荷量的线性关系，得到所述校准因子。

8.根据权利要求1所述的微弱电荷校准方法，其特征在于，在所述步骤C之前，所述方法还包括：

对所述输出电压信号进行滤波处理。

9.根据权利要求1所述的微弱电荷校准方法，其特征在于，所述数字源表采用keithley2410-C型带接触检测的高压数字源表。

10.根据权利要求1所述的微弱电荷校准方法，其特征在于，所述静电计的型号为6517B。