[发明专利]瓷套管液位检测方法、装置、计算机设备和存储介质有效
申请号: | 201711473978.X | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108362358B | 公开(公告)日: | 2020-01-07 |
发明(设计)人: | 祁宏昌 | 申请(专利权)人: | 广州供电局有限公司 |
主分类号: | G01F23/296 | 分类号: | G01F23/296 |
代理公司: | 44224 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人: | 黄晓庆 |
地址: | 510620 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 瓷套管 反射波 超声波 衰减率 特征信息 液面位置 超声激励信号 超声波探头 反射波数据 计算机设备 存储介质 电缆终端 液位检测 传输过程 判断结果 衰减问题 不均匀 传播 发送 发射 | ||
1.一种电缆终端的瓷套管液位检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
根据所述电缆终端的瓷套管建立仿真模型,提取所述仿真模型的节点位移;
根据所述节点位移分析得到不同波形及频率的信号在所述电缆终端的瓷套管内的传播规律和能量衰减规律,根据所述不同波形及频率的信号的传播规律和能量衰减规律,确定所需超声激励信号的波形和频率,并根据确定的超声激励信号的波形和频率生成超声激励信号;
发送超声激励信号至超声波探头,所述超声激励信号用于控制所述超声波探头向电缆终端的瓷套管内发射对应超声波;
接收所述超声波在瓷套管内传播产生的反射波并根据所述反射波提取得到反射波数据;
根据所述反射波数据计算所述超声波在所述瓷套管内传播的衰减率,根据所述衰减率对反射波进行补偿,提取补偿后反射波的特征信息;
根据所述反射波特征信息,判断瓷套管内部的液面位置得到判断结果。
2.根据权利要求1所述的电缆终端的瓷套管液位检测方法,其特征在于,所述接收所述超声波在瓷套管内传播产生的反射波并根据所述反射波提取得到反射波数据的步骤之后,还包括以下步骤:
根据所述反射波数据判断是否需要对发射的超声波进行调整;
若是,则根据所述反射波数据对所述超声激励信号进行调整,并将调整后的超声激励信号发送至超声波探头;
若否,则进行所述根据所述反射波数据计算所述超声波在所述瓷套管内传播的衰减率,根据所述衰减率对反射波进行补偿,提取补偿后反射波的特征信息。
3.根据权利要求1所述的电缆终端的瓷套管液位检测方法,其特征在于,所述根据所述反射波数据计算所述超声波在所述瓷套管内传播的衰减率,根据所述衰减率对所述反射波进行补偿,包括:
根据所述瓷套管与电缆终端的垂直距离,计算所述瓷套管的管壁厚度;
根据待检测点对应的管壁厚度和反射波数据计算所述超声波在所述瓷套管壁内传播的衰减率;
根据所述衰减率对所述管壁厚度进行补偿后,计算补偿后的衰减率,根据补偿后的衰减率对反射波进行补偿。
4.根据权利要求1所述的电缆终端的瓷套管液位检测方法,其特征在于,所述提取补偿后反射波的特征信息,包括:
通过小波软阈值对补偿后的反射波进行滤波处理;
提取滤波处理后反射波的特征信息。
5.根据权利要求1所述的电缆终端的瓷套管液位检测方法,其特征在于,在所述接收所述超声波在瓷套管内传播产生的反射波并根据所述反射波提取得到反射波数据的步骤之后,所述根据所述反射波数据计算所述超声波在所述瓷套管内传播的衰减率,根据所述衰减率对反射波进行补偿,提取补偿后反射波的特征信息的步骤之前,还包括以下步骤:
接收所述超声波在瓷套管内传播产生的折射波并根据所述折射波提取得到折射波数据;
根据所述反射波数据和所述折射波数据计算所述超声波在瓷套管内固气界面的声压反射率和声能透射率,以及固液界面的声压反射率和声能透射率;
根据所述超声波在瓷套管内固气界面的声压反射率和声能透射率,以及固液界面的声压反射率和声能透射率计算所述瓷套管内介质的特性阻抗;
所述根据所述反射波特征信息,判断瓷套管内部的液面位置得到判断结果,为:根据所述反射波特征信息和所述瓷套管内介质的特性阻抗,判断瓷套管内部的液面位置得到判断结果。
6.根据权利要求5所述的电缆终端的瓷套管液位检测方法,其特征在于,所述根据所述反射波特征信息和所述瓷套管内介质的特性阻抗,判断瓷套管内部的液面位置得到判断结果的步骤,包括以下步骤:
根据所述反射波特征信息,构建幅值下降速度特征函数;
根据所述幅值下降速度特征函数,计算瓷套管检测点对应的函数特征值;
根据所述函数特征值和所述瓷套管内介质的特性阻抗判断瓷套管内部的液面位置得到判断结果。
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