[发明专利]一种空载损耗测试线圈装置及空载损耗测试仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种空载损耗测试线圈装置及空载损耗测试仪。

背景技术

变压器作为变电不可或缺的设备已经被普及应用，但是由于变电过程中磁场的损耗，变压器的铁芯会消耗一定的电力，因此变压器在设计生产过程中就要严格控制其自身的损耗，特别是控制铁芯空载损耗的大小，一般来说，变压器铁芯在装配完成但还未套装线圈的时候就需要对铁芯进行空载损耗和空载电流的测试，如果发现损耗偏高，就能及时查找原因进行返厂处理，不必等到产品装配完成才进行处理，造成不必要的损失。而现有的测试方法多为直接在每个铁芯柱上临时缠绕线圈，之后将线圈两端接入测试仪器进行损耗的测试，该测试方法需要围绕铁芯柱一圈圈缠绕线圈，十分不方便的同时还容易数错，造成测量数据的不准确。

授权公告号为CN205898849U的专利文件公开了一种测试变压器铁芯空载损耗的线圈，该线圈包括多根导线、固定连接头、活动连接头、头部线夹和尾部线夹，固定连接头的一侧分别与多根导线的一同名端对应连接，头部线夹连接在固定头的头部；活动连接头的一侧分别与多根导线的另一同名端对应连接，活动连接头的每个连接头位置分别设有接插孔，尾部线夹连接在其中一个接插孔中；固定连接头的另一侧和活动连接头的另一侧分别连接有对应配合的多个接插件。

但上述线圈在使用时需要从活动连接头上的插接孔引出导线以接入损耗测试仪，由于连接头体积较小，引出导线时较为不便。

发明内容

本发明的目的在于提供一种空载损耗测试线圈装置，以解决现有技术中的线圈在使用时需要从活动连接头上的插接孔引出导线而较为不便的技术问题，本发明还提供一种空载损耗测试仪。

为实现上述目的，本发明提供空载损耗测试线圈装置采用如下技术方案：一种空载损耗测试线圈装置，线圈装置包括电路板及设于电路板上的插座，线圈装置还包括与所述插座配合的插头，线圈装置还包括一端与所述插座连接、另一端与所述插头连接以在插头与插座配合时形成临时线圈的集合线束，所述电路板上设有用于与所述临时线圈其中一匝连接的引出端，所述电路板上还设有若干个与引出端配合以在临时线圈中选取相应匝数的选匝接线端。

本发明的有益效果是：将选匝接线端设在电路板上，在使用时只需在电路板上引出导线接入损耗测试仪即可，与现有技术相比，使用更加方便且接线速度更快。

其中，所述引出端连接于所述插座上的第一匝临时线圈的接入位。使用时将空载损耗测试仪的导线分别与引出端和不同的选匝接线端连接，方便快捷地改变临时线圈的匝数以对空载损耗进行测试。

优选的，所述电路板上设有用于显示各个选匝接线端的匝数的数字。设有显示各个选匝接线端的数字，使用时方便快捷地改变临时线圈的匝数，以避免发生选匝接线端的混淆而影响测试结果。

优选的，所述插头具有若干针脚，所述插座具有与所述若干针脚对应的针孔，所述集合线束包括等于或少于所述针脚的数量的导线，所述导线头部与针脚连接、尾部与针孔连接并使每根导线的头部与下一根导线的尾部连接以在插头和插座插配时形成所述临时线圈。

优选的，所述导线上于插座位置设有接入位，所述选匝接线端与所述接入位一一对应连接。

本发明提供一种空载损耗测试仪的技术方案，一种空载损耗测试仪，包括测试仪本体及测试线圈，所述测试线圈包括电路板及设于电路板上的插座，线圈装置还包括与所述插座配合的插头，线圈装置还包括一端与所述插座连接、另一端与所述插头连接以在插头与插座配合时形成临时线圈的集合线束，所述电路板上设有用于与所述临时线圈其中一匝连接的引出端，所述电路板上还设有若干个与引出端配合以在临时线圈中选取相应匝数的选匝接线端。

所述引出端连接于所述插座上的第一匝临时线圈的接入位。

所述电路板上设有用于显示各个选匝接线端的匝数的数字。

优选的，所述插头具有若干针脚，所述插座具有与所述若干针脚对应的针孔，所述集合线束包括等于或少于所述针脚的数量的导线，所述导线头部与针脚连接、尾部与针孔连接并使每根导线的头部与下一根导线的尾部连接以在插头和插座插配时形成所述临时线圈。

优选的，所述导线上于插座位置设有接入位，所述选匝接线端与所述接入位一一对应连接。

附图说明

图1为本发明提供空载损耗测试线圈装置的实物示意图；

图2为本发明提供空载损耗测试线圈装置的接线示意图；

附图中：1-电路板，2-插座，3-插头，4-集合线束，5-引出端，6-选匝接线端，7-飞线。

具体实施方式