[发明专利]一种相控阵超声检测能力验证试块组及其使用方法

权利要求书

1.一种相控阵超声检测能力验证试块组，其特征在于：包括YZ-Ⅰ型、YZ-Ⅱ型、YZ-Ⅲ型、YZ-Ⅳ型和YZ-Ⅴ型共五个试块且其厚度依次分别对应为4mm、8mm、15mm、20mm和40mm；

所述YZ-Ⅰ型试块：其长度100mm、宽度30mm、厚度4mm，该YZ-Ⅰ型试块左端设有一个横通孔Ⅰ（1），YZ-Ⅰ型试块右端上表面和下表面对称分别设有一个单边V型坡口刻槽Ⅰ1（2）和刻槽Ⅰ2（3）；

所述YZ-Ⅱ型试块：其长度100mm、宽度30mm、厚度8mm，该YZ-Ⅱ型试块左端有两个平行的横通孔Ⅱ2（7）和横通孔Ⅱ3（8），YZ-Ⅱ型试块右端上表面和下表面对称分别设有一个单边V型坡口刻槽Ⅱ1（4）和刻槽Ⅱ2（5），所述刻槽Ⅱ1（4）和刻槽Ⅱ2（5）连线的中点位置处设有一个横通孔Ⅱ1（6）；

所述YZ-Ⅲ型试块：其长度140mm、宽度30mm、厚度15mm，该YZ-Ⅲ型试块的左端有横通孔Ⅲ2（12）、横通孔Ⅲ3（13）、横通孔Ⅲ4（14），其中横通孔Ⅲ2（12）圆心与YZ-Ⅲ型试块的左端边缘的距离为58mm，所述横通孔Ⅲ3（13）与横通孔Ⅲ2（12）的圆心的间距为4mm且均距离YZ-Ⅲ型试块上表面为10mm，所述横通孔Ⅲ3（13）和横通孔Ⅲ4（14）的圆心连线与垂直中分面的夹角为30°；该YZ-Ⅲ型试块右端的上表面和下表面对称设有一单边V型坡口刻槽Ⅲ1（9）和刻槽Ⅲ2（10），所述刻槽Ⅲ1（9）和刻槽Ⅲ2（10）连线中点位置设有一上一下横通孔Ⅲ1（11）；所述横通孔Ⅲ4（14）距离试块上表面5mm；

所述YZ-Ⅳ型试块：其长度140mm、宽度30mm、试块厚度20mm，该YZ-Ⅳ型试块的上表面和下表面对称设有一单边V型坡口刻槽Ⅳ1（15）和刻槽Ⅳ2（16），所述刻槽Ⅳ1（15）和刻槽Ⅳ2（16）的连线中点位置设有上下分布的三个横通孔Ⅳ1（17）；该YZ-Ⅳ型试块的左端有横通孔Ⅳ2（18）、横通孔Ⅳ3（19）、横通孔Ⅳ4（20）和横通孔Ⅳ5（21），其中横通孔Ⅳ3（19）、横通孔Ⅳ4（20）和横通孔Ⅳ5（21）的圆心连线与垂直中分面夹角为30°；

所述YZ-Ⅴ型试块：其长度180mm、宽度30mm、试块厚度40mm，YZ-Ⅴ型试块右端的上表面和下表面对称设有一单边V型坡口刻槽Ⅴ1（22）和刻槽Ⅴ2（23），所述刻槽Ⅴ1（22）和刻槽Ⅴ2（23）中点位置设有上下分布的三个横通孔Ⅴ1（24）；YZ-Ⅴ型试块左端有横通孔Ⅴ2（25）、横通孔Ⅴ3（26）、横通孔Ⅴ4（27）和横通孔Ⅴ5（28），其中横通孔Ⅴ2（25）、横通孔Ⅴ3（26）左右分布且圆心共线、横通孔Ⅴ4（27）和横通孔Ⅴ5（28）圆心连线相对于水平面倾斜设置且横通孔Ⅴ3（26）、横通孔Ⅴ4（27）和横通孔Ⅴ5（28）圆心共线；横通孔Ⅴ3（26）、横通孔Ⅴ4（27）和横通孔Ⅴ5（28）的圆心连线与垂直中分面夹角为10°；

所靠左端的横通孔Ⅴ2（25）圆心与YZ-Ⅴ型试块右端边缘距离为77mm，所述横通孔Ⅰ（1）的直径为2mm，所述横通孔Ⅰ（1）圆心与YZ-Ⅰ型试块左端边缘之间的距离为40mm；所述刻槽Ⅰ1（2）和刻槽Ⅰ2（3）的坡口角度为45°、深度为1mm，所述刻槽Ⅰ1（2）和刻槽Ⅰ2（3）的直角边距离与YZ-Ⅰ型试块右端边缘之间的距离为20mm；

两个所述横通孔Ⅱ2（7）和横通孔Ⅱ3（8）的圆心距为4mm且与YZ-Ⅱ型试块上表面的距离均为4mm，所述横通孔Ⅱ2（7）圆心与YZ-Ⅱ型试块左端边缘之间的距离为38mm；

所述刻槽Ⅱ1（4）和刻槽Ⅱ2（5）坡口角度均为45°、深度1mm，所述刻槽Ⅱ1（4）和刻槽Ⅱ2（5）直角边与YZ-Ⅱ型试块右端边缘之间距离为20mm；

所述横通孔Ⅱ1（6）圆心与YZ-Ⅱ型试块上表面之间的距离为4mm，所述横通孔Ⅱ1（6）圆心与YZ-Ⅱ型试块右端边缘之间距离为20mm。

2.根据权利要求1所述相控阵超声检测能力验证试块组，其特征在于：所述刻槽Ⅲ1（9）和刻槽Ⅲ2（10）的坡口角度为45°、深度1.5mm，所述刻槽Ⅲ1（9）和刻槽Ⅲ2（10）直角边与YZ-Ⅲ型试块右端边缘的距离为20mm；两个所述横通孔Ⅲ1（11）的圆心距离YZ-Ⅲ型试块上表面之间的距离分别为5mm和10mm，两个所述横通孔Ⅲ1（11）的圆心与YZ-Ⅲ型试块右端边缘的距离为20mm。