[发明专利]一种利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法

权利要求书

1.一种利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法，基于携带同轴点激光传感器的四轴机器人，其特征在于，所述方法包括：

校准四轴机器人的工件中心坐标原点；

确定同轴点激光传感器和四轴机器人之间的对应位置，得到两者之间的仿射变换矩阵；

通过四轴机器人的控制器示教待测工件上的各个特定位置，并根据仿射变换矩阵计算仿射变换后的坐标；

通过同轴点激光传感器的控制器在待测工件的各个特定位置调试并设定点激光的参数；

四轴机器人携带同轴点激光传感器依次运动到待测工件的各个特定位置，分别测量并得到各个特定位置的参数。

2.根据权利要求1所述的利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法，其特征在于，所述的调试并设定点激光的参数包括：移动四轴机器人让激光头处于最佳测量范围；设定激光的采集频率和周期；设定激光触发模式；设定激光的数据滤波和平滑系数。

3.根据权利要求1或2所述的利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法，其特征在于，四轴机器人的控制器和同轴点激光传感器的控制器分别连接上位机，通过上位机设定待测工件的各个特定位置的尺寸参数和调用算法类型，并根据尺寸参数和调用算法类型判定待测工件是否合格。

4.根据权利要求3所述的利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法，其特征在于，所述的设定待测工件的各个特定位置的尺寸参数和调用算法类型包括：设定各个测量尺寸的标准值、上下限公差，产品分类界限阈值；设定对被测尺寸数据处理的相关算法。

5.根据权利要求1所述的利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法，其特征在于，四轴机器人携带同轴点激光传感器运动到标定板上的各个标记点位置，同时记录下该标记点位置的机器人坐标，将标定板本身标记点的坐标同机器人坐标相结合，建立对应关系，并根据此对应关系求取两者的仿射变换矩阵。

6.根据权利要求1所述的利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法，其特征在于，在校准四轴机器人的工件中心坐标原点之前，先评估待测工件的各个特定位置。

7.根据权利要求4所述的利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法，其特征在于，所述的待测工件特定位置的参数包括：高度、平面度和断差。

8.根据权利要求7所述的利用点激光对工件特定位置参数进行测量的方法，其特征在于，所述的待测工件指手机外壳。