[发明专利]一种基于VAI表面检测系统的缺陷图片分类收集方法

权利要求书

1.一种基于VAI表面检测系统的缺陷图片分类收集方法，其特征在于，包括：

基于缺陷的第一属性特征值，在待分类图片中筛查满足第一属性特征值范围的第一缺陷图片组；

基于缺陷的第二属性特征值，在所述第一缺陷图片组中筛查满足第二属性特征值范围的初分类缺陷图片；

其中，所述第一属性特征值包括：缺陷面积、缺陷长度以及缺陷宽度；所述第一属性特征值范围包括：缺陷面积范围，缺陷长度范围以及缺陷宽度范围；

仅当待分类图片的缺陷面积、缺陷长度以及缺陷宽度对应落在缺陷面积范围，缺陷长度范围以及缺陷宽度范围内的情况下，认定待分类缺陷图片属于第一缺陷图片组；

所述第二属性特征值包括：平均灰度值和灰度值标准差；所述第二属性特征值范围包括：平均灰度值范围和灰度值标准差范围；

仅当待分类图片的平均灰度值和灰度值标准差对应落在平均灰度值范围和灰度值标准差范围内的情况下，认定待分类缺陷图片属于初分类缺陷图片；

所述第一属性特征值范围和所述第二属性特征值范围根据具体缺陷类别确定；

所述方法还包括：

通过VAI表面检测系统将所述初分类缺陷图片生成对应缺陷的球形文件；

并基于所述球形文件的R属性和N属性筛查出所述球形文件中分类错误的缺陷图片；

将所述分类错误的缺陷图片剔除；

其中，仅当R属性值小于1且N属性值大于0的情况下，认定初分类缺陷图片分类错误；

所述R属性值为球形文件的初始半径，所述N属性值为被检图片同类型缺陷图片被划为其它缺陷类型图片数量；

所述方法还包括：

获取所述分类错误的缺陷图片的缺陷的像素值；

获取所述像素值与缺陷面积的比值K；

比较所述比值K与所述分类错误的缺陷图片对应的缺陷的K值范围；

将所述比值K落入所述K值范围的分类错误的缺陷图片重新加入到所述球形文件的图片集中。