[发明专利]模块化多功能自由空间法测试夹具

权利要求书

1.模块化多功能自由空间法测试夹具，其特征在于，所述夹具用于在自由空间法中测试粉状或颗粒状材料的电磁参数；包括夹具包括天线底板、用于固定测试天线的天线底座、样品盒支架、固定在所述样品盒支架上的样品盒；其中，所述样品盒为平板形长方体，以使其内部的粉末状或颗粒状待测样品约束强制成形；且所述测试天线与所述样品盒之间的距离能够调节，进而完成传输法或反射法的校准与测试。

2.根据权利要求1所述模块化多功能自由空间法测试夹具，其特征在于，当利用所述夹具进行传输法校准与测试时，所述天线底座包括分别设置于所述天线底板两侧的第一天线底座和第二天线底座；所述样品盒支架设置于所述第一天线底座和第二天线底座之间，且固定于所述天线底板上，所述测试天线包括分别固定设置在所述第一天线底座和第二天线底座上的两个测试天线。

3.根据权利要求2所述模块化多功能自由空间法测试夹具，其特征在于，在所述天线底板上设置有相互平行的凹槽，在所述第一天线底座和第二天线底座的底部设置与所述凹槽相对应的滑轨；能够通过所述凹槽和滑轨的配合来调节所述测试天线与所述样品盒间的距离。

4.根据权利要求3所述模块化多功能自由空间法测试夹具，其特征在于，在所述第一天线底座和第二天线底座的底部均设置定位螺栓，且在所述天线底板的凹槽上设置刻度；能够通过移动第一天线底座和第二天线底座，以及通过所述凹槽上刻度以及所述定位螺栓的配合使用，准确控制测试天线与样品盒间的距离。

5.根据权利要求1所述模块化多功能自由空间法测试夹具，其特征在于，当利用所述夹具进行反射法校准与测试时，所述测试夹具还包括一校准基座；将所述天线底座固定设置于所述天线底板的一端；所述校准基座设置于所述天线底板的另一端；所述样品盒支架设置于所述校准基座上；

在所述天线底板上设置有凹槽，在所述校准基座的底部设置与所述凹槽相对应的滑轨；在所述天线底座固定的情况下，能够通过所述凹槽和滑轨的配合移动所述校准基座，从而调节所述测试天线与所述样品盒间的距离。

6.根据权利要求6所述模块化多功能自由空间法测试夹具，其特征在于，在所述天线底板的凹槽上设置刻度，能够通过移动所述校准基座，并配合刻度及定位螺栓的配合使用，准确控制测试天线与样品盒间的距离，并在时域条件下找到最佳的反射测试位置。

7.根据权利要求1-7任一项所述模块化多功能自由空间法测试夹具，其特征在于，在样品盒支架上设有双插槽结构，能够实现同时插入样品盒和反射铝板，或单独插入样品盒；且在所述样品盒支架上设置定位螺栓，在同时插入样品盒和反射铝板时，用于消除所述样品盒和反射铝板间的孔隙，且当单独插入样品盒时，防止样品盒移动而带来测试误差。

8.所述样品盒的表面积为天线物理口径的2～3 倍。

9.根据权利要求1-7任一项所述模块化多功能自由空间法测试夹具，其特征在于，根据权利要求2所述模块化多功能自由空间法测试夹具，其特征在于，所述夹具全部采用有机玻璃材料制备，以防止测试空间中存在的反射干扰。

10.根据权利要求1-7任一项所述模块化多功能自由空间法测试夹具，其特征在于，所述夹具还包括垂直底座，当待测粉末状或颗粒状样品不适宜垂直放置时，将所述天线底板垂直插入该垂直底座，从而实现样品盒从从垂直放置到水平放置的转换。