[发明专利]一种目标体的红外参数测定装置及测定方法

说明书

本发明涉及一种目标体的红外参数测定装置，包括镜像对称分布在目标体检测面的两侧第一红外探头、第二红外探头，与第一红外探头设置在目标体检测面的同侧且位于第一红外探头旁的红外光源以及分别与第一红外探头、第二红外探头、红外光源电连接的控制器，红外光源的设置位置与第一红外探头、第二红外探头的检测区域相匹配。本发明还涉及目标体的红外参数测定方法，在未放置目标体时，第二红外探头检测获取红外光源打开和关闭状态下的接收能量差值。放置目标体后，第一红外探头、第二红外探头分别检测获取红外光源打开和关闭状态下的接收能量差值，进而计算获取目标体的反射率。本发明中的测定装置结构简单，测定方法操作方便容易。

技术领域

本发明涉及一种红外测温技术领域，具体涉及一种目标体的红外参数测定装置，还涉及该目标体的红外参数测定方法。

背景技术

在现有测温技术中，有接触测温和非接触测温两大类。接触测温一般使用热敏电阻或是热电偶等热敏器件。接触测温本身就会有延迟，因为待测物体要传热给热敏器件，才能进行测量。并且热敏器件的温度耐受能力有限，应用在高温器件测温环境中老化速度快，并且在一些应用环境中也无法实现与测温目标物的直接接触，应用范围受限。

非接触测温主要是红外测温，通常采用红外探头进行测温。红外探头主要利用辐射热效应，使得使探测器件接收辐射能后引起温度升高，进而使红外探头中某一性能随着温度的变化而发生变化，进而获取温度信号。

根据光学原理，α+ρ+τ＝1，其中α表示吸收率，ρ表示反射率，τ表示透射率。根据基尔霍夫定律可知，α＝ε，其中ε表示发射率，对于不透明材质的物体，τ＝0，则有ε+ρ＝1，即不透明物体表面的反射率越高和发射率成反比。红外测温中，发射率的测定是必须进行的工作。同样温度的物体，会因为材质的不同而导致物体的发射率不同，进而会引起温度测量误差。而红外探头在生产时会使用发射率接近1的黑体进行温度标定。不同的生产商选用的黑体的反射率不尽相同，但是红外探头中的发射率则设定为一个固定值，在实际测量过程中获取的检测结果则存在较大的误差。授权公告号为CN101435721B(申请号为200810134154.4)的中国发明专利《红外目标温度校正系统和方法》，其中即采用发射率接近于1的目标进行校正工作。在实际测量中，待测目标体的发射率与红外探头进行温度标定时选用黑体的反射率很难保持一致，这种反射率的差距会直接影响红外探头对目标体温度的测量结果。

发明内容

本发明所要解决的第一个技术问题是针对上述现有技术提供一种结构简单、方便操作的目标体的红外参数测定装置。

本发明所要解决的第二个技术问题是针对上述现有技术提供一种能够简单测定目标体的反射率，进而方便在应用中直接在红外探头中标定目标体反射率或者实时测定目标体反射率的目标体的红外参数测定方法。

本发明解决上述第一个技术问题所采用的技术方案为：一种目标体的红外参数测定装置，其特征在于：包括

第一红外探头，设置在目标体检测面的一侧；

第二红外探头，设置在目标体检测面的另一侧，且与所述第一红外探头镜像对称分布在所述目标体检测面的两侧；

红外光源，与所述第一红外探头设置在所述目标体检测面的同侧且位于所述第一红外探头旁；

控制器，分别与所述第一红外探头、第二红外探头、红外光源电连接，用于接收第一红外探头、第二红外探头传送的检测信号，以及控制所述红外光源的打开和关闭。

为了提高测定速度，所述第一红外探头、红外光源集成设置在一块电路板上。

优选地，所述控制器也集成设置在所述电路板上。

所述红外光源的设置位置与所述第一红外探头、第二红外探头的检测区域相匹配，以使得所述第一红外探头、第二红外探头能够检测到红外光源发出的红外光。